高低温电子元器件试验箱
结构设计
箱体材质：外胆一般采用冷轧钢板表面喷塑，具有良好的耐腐蚀性和美观度；内胆通常选用 SUS304 不锈钢板，耐腐蚀性强，易于清洁，能有效防止箱内环境对电子元器件产生污染。
保温材料：多采用硬质聚氨酯发泡或超细*等高效保温材料，保温性能良好，可减少热量传递，维持箱内温度稳定，降低能耗。
观察窗：设有透明大视角观察窗，并配备照明灯，方便操作人员在试验过程中随时观察箱内电子元器件的状态，而无需打开箱门影响试验环境。
测试孔：箱体侧面通常配有直径不同的测试孔，可供外接测试电源线、信号线等，便于对箱内电子元器件进行电气性能测试和数据采集。
高低温电子元器件试验箱
控制系统
操作界面：一般采用触摸式彩色液晶操作屏，显示各种运行数据，如当前温度、设定温度、运行时间等，用户可根据需求自由设定和保存参数，操作简便直观，部分产品还支持中英文界面切换，方便不同用户使用。
程序设定：具备强大的编程功能，可预设多组程序，能任意分割设定，并附多组 PID 控制功能。例如可设置 250 组程序 12500 段次记忆，每段最长可达 520 小时 59 分钟，满足不同电子元器件的复杂测试需求，如高低温循环测试、恒定温度测试等。
性能特点
宽温度范围：通常温度范围可达 - 70℃至 150℃，能满足各类电子元器件在极寒到高温等温度条件下的测试需求。
高精度控温：采用 PID 智能控温技术，配合高精度温度传感器，温度设定精度可达 0.1℃，指示精度也为 0.1℃，温度均匀度一般能控制在 ±2℃以内，确保箱内各部位温度稳定且均匀，为电子元器件提供准确的测试环境。
快速温变能力：配备高效制冷与加热系统，升降温速度快，例如每分钟升降温平均可达 5℃ - 20℃（可调），可快速模拟电子元器件在实际使用中可能遇到的温度变化情况，缩短测试周期，提高测试效率。
