特征
DMP 系列的便携性、功能使其具有足够的通用性，可用于广泛的应用。这些灵活的设备是接触式和非破坏性测量铁基材和有色金属基材上涂层厚度的解决方案。为此，我们有适合您需求的型号选择：ISOSCOPE®、DELTASCOPE® 或 DUALSCOPE®。
广泛的探头组合，用于接触式涂层厚度测量的通用仪器系列
存储容量：2500批次，250000个测量值（DMP30/40）或1批次，10000个测量值（DMP10/20）
坚固的铝制外壳具有 IP64 防护等级、强化玻璃和柔软缓冲
可更换锂离子电池，工作时间 > 24 小时
通过 USB-C 和蓝牙轻松传输数据
通过灯光、声音和振动进行实时反馈以进行上下限监控
校准检查功能可验证您当前使用的校准信息
ISOSCOPE®
在非磁性金属基材上测量不导电涂层的厚度
应用实例
NC/NF：铝、铜或黄铜上的油漆、清漆或塑料
NC/NF：铝上的阳极氧化涂层
测量方法
振幅敏感涡流法
DELTASCOPE®
在铁磁性金属基材上测量非铁磁性涂镀层的厚度
应用实例
NC/Fe：钢或铁上的油漆、清漆或塑料
NF/Fe：钢或铁上的锌、铬或铜
测量方法
磁感应测量法
DUALSCOPE®
FMP40升级DMP40菲希尔涂层测厚仪
FMP40升级DMP40菲希尔涂层测厚仪
在非磁性金属基材上测量不导电涂层的厚度，在铁磁性金属基材上测量非铁磁性涂镀层的厚度。
应用实例
NC/NF：油漆、清漆、塑料用于铝、铜、黄铜。
NC/NF：铝上的阳极氧化涂层
NC/Fe：钢或铁上的油漆、清漆或塑料
NF/Fe：钢或铁上的锌、铬或铜
测量方法
振幅敏感涡流法和磁感应测量法
| DUALSCOPE® | DELTASCOPE® | ISOSCOPE® | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Model | DUALSCOPE® DMP 20 "入门级型号" | DUALSCOPE® DMP 40 "舒适型" | DELTASCOPE® DMP 10 "入门级型号" | DELTASCOPE® DMP 30 "舒适型" | ISOSCOPE® DMP 10 "入门级型号" | ISOSCOPE® DMP 30 "舒适型" |
| 应用 | 测量非磁性金属基材上的非导电层和测量磁性基材上的非磁性层。 | 测量磁性基材上的非磁性层。 | 测量非磁性基础金属上的非导电涂层。 | |||
| 基材 | 有色金属（NF）和钢或铁（FE) | 钢或铁 (FE) | 有色金属(NF) | |||
| 应用实例 |
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| |||
| 测量方法 | 振幅敏感涡流法和磁感应法 | 磁感应测量法 | 振幅敏感涡流测量法 | |||
| 测量结果存储 | ≤ 10,000 | ≤ 250,000 | ≤ 10,000 | ≤ 250,000 | ≤ 10,000 | ≤ 250,000 |
| 测量任务的数量 | 1 | ≤ 2,500 | 1 | ≤ 2,500 | 1 | ≤ 2,500 |
| 通讯 | USB-C | USB-C和蓝牙 | USB-C | USB-C和蓝牙 | USB-C | USB-C和蓝牙 |
| 极限监测 | 灯光和声音 | 灯光、声音和振动 | 灯光和声音 | 灯光、声音和振动 | 灯光和声音 | 灯光、声音和振动 |
| 标准 | DIN EN ISO 2178, DIN EN ISO 2360, ASTM D7091, ASTM 4471 | DIN EN ISO 2178, ASTM D7091, ASTM 4471 | DIN EN ISO 2360, ASTM D7091, ASTM 4471 | |||
| 测量探头 D-F 带微处理芯片的智慧型插入式磁感应探头 电缆长度：1.5m（5 feet） 测量范围：0 - 2000 μm（NF/Fe） 0 - 80 mils 测量：0-100um：1um 100-1000um：〈 1 % 1000-2000um：〈3% | 测量探头 D-FN-sm 用于根据磁感应和涡流方法来测量涂镀层厚度， 带微处理芯片的智慧型插入式探头，弹性测量系统。 电缆长度：1.5m（5 feet） 测量范围： 0-1300um NF/Fe 0-800um Iso/NF 测量：NF/Fe 0-100um：≤2um 100-1300um：≤3% ISO/NF 0-100um：≤2um 100-800um：≤2% |
| 测量探头 FTA3.3H 带微处理芯片的智慧型涡流插入式探头 电缆长度：1.5m（5 feet）； 测量范围：0-1200 um（0-48 mils） 测量： 0-100um：0.5um 100-800um：1% | 测量探头 FTD3.3 电涡流测量探头，电缆长度：1.5m（5 feet） 测量范围：0-800um（Iso/NF） 测量： 0-100 μm: ≤ 1 um 100-500um: ≤ 1 % 500-800um: ≤ 3 % |
