产品描述
美国狄夫斯高DeFelsko RTR3D表面粗糙度仪-简介：
美国DeFelsko公司表面粗糙度轮廓仪PosiTectorRTR3D利用Testex™ Press-O-Film™拓片纸，测量喷砂表面和有纹理的涂层表面的2D/3D轮廓参数。
符合ASME B46, ASTM D4417/D7127, ISO 8503-5, NACE SP287, SSPC-PA 17, SSPC-SP5, SP6, SP10, SP11-87T等标准。
美国狄夫斯高DeFelsko RTR3D表面粗糙度仪-特点：
简便
-测量HL(波峰波谷高度)值和常见的2D/3D轮廓参数，如Ra、Rz、Sq、Spd等
-可测量平面、曲面和不规则表面
-更大的2.8英寸抗冲击彩色触摸屏，重新设计的按键，用于快速菜单导航
-在线帮助功能
-重置功能可迅速还原到出厂设置状态
耐用
-防风雨、防尘和防水--IP65防护等级外壳
-符合人体工程学设计，增加了机身两侧的橡胶护边
-带减震保护的橡胶套，增加抗冲击性
-表面粗糙度轮廓仪PosiTectorRTR3D
精确
-每台仪器都有可追溯到经认可的国家实验室的校准证书(包含Ra和Rt值)
-符合包括ISO和ASTM在内的标准
通用
-PosiTector主机可配6000、200、UTG、RTR、SPG、DPM、SST、SHD或BHI探头，组合成涂层测厚仪、超声波测厚仪、表面粗糙度轮廓仪、露点仪、盐分仪、邵氏硬度计或巴氏硬度计
-可选分体式探头，方便测量
-自动旋屏，可锁定
-多种菜单语言可选，包括中文
高效
-计算并记录每次测量的14个2D和3D参数
-在水平、垂直和对角线(XY、YX)之间定位2D轨迹
-截屏功能，可存储100个截屏图片并连接计算机查看
-电池续航时间延长30%
-通过USB数据线方便的连接计算机，并且给主机供电
-U盘模式--通过计算机访问存储的数据和图形文件
-内置时钟，可标注每个存储数据的时间
-可下载PosiSoft软件用于下载和查看数据报告
技术参数
美国狄夫斯高DeFelsko RTR3D表面粗糙度仪-技术参数：
| 型号 | RTR3D1 | RTR3D3 |
| 主机 | 标准型 | 高级型 |
| 测量范围(HL) | 20~115μm / 0.8~4.5mils | |
| 测量范围(Rt) | 10~115μm / 0.4~4.5mils | |
| 最小粗糙度(Ra) | 2μm / 0.08mil | |
| 测量精度(HL) | ±5μm / ±0.2mils | |
| 测量精度(Rt) | ±(5μm+5%) / ±(0.2mil+5%) | |
| 测量精度(Ra) | ±(0.25μm+5%) / ±(0.01mil+5%) | |
| 加载面直径 | Ø6.35mm (Ø0.25inch) | |
| 加载压力 | 110gf / 1.1N | |
| 视野 | 3.8x3.8mm / 0,149 x 0,149inch | |
| 横向采样 | 3.7μm / 0.145mil | |
| 垂直分辨率 | 100nm - 2D/3D，1nm - SDF / 3.93μin - 2D/3D，0.393μin - SDF | |
| 分辨率 | 0.1μm / ±(0.1mil | |
| 测量参数(2D) | Ra、Rq、Rp、Rv、Rt、Rz、Rpc | |
| 测量参数(3D) | H、Sa、Sq、Sz、Sp、Sv、Spd | |
主机
| 1型-标准型主机(Standard) | - | 具有上述所列的所有优点 |
| 3型-高级型主机(Advanced) | - | 可存储1000组250000个数据 |
美国狄夫斯高DeFelsko RTR3D表面粗糙度仪-配置：
主机、探头、光学级 X-Coarse拓片纸、不锈钢压棒、透明球、酒精清洁(5张)、细纤维清洁布、厚度试片、拓片纸定位片、清洁胶泥、橡胶保护套、腕带、3节7号电池、USB 数据线、尼龙便携软包、中英文说明书、出厂证书
主机尺寸：127 x 66 x 25.4mm
主机重量：137g(不含电池)
