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S8000 RS高精度冷镜式露点仪

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具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称无锡徽科特测控技术有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地无锡市
  • 厂商性质经销商
  • 更新时间2025/1/31 9:12:20
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       无锡徽科特测控技术有限公司专业销售 瑞士罗卓尼克(ROTRONIC )全系列的温湿度测量产品:变送器、记录器、手持表、指示器、探头、传感器和湿度发生器,用于测量和校准相对湿度、温度、露点、水分活度和各种湿度学参数。

瑞士罗卓尼克(ROTRONIC)的温湿度产品广泛应用于暖通(HVAC)、智能管理系统(BMS)、生产和过程控制、气象、食品安全和制药等。 ROTRONIC 瑞士罗卓尼克的产品基于*的 HygroClip 数字技术,代表了*的湿度学参数测量技术,以高精度、高稳定性著称于世。

我公司拥有一支专业的队伍从事ROTRONIC产品的服务工作,相信我们能够为您提供理想的温湿度、露点产品的解决方案,期盼与您的合作!

ROTRONIC瑞士罗卓尼克——湿度测量前沿

无锡徽科特测控技术有限公司专业销售 瑞士罗卓尼克(ROTRONIC )全系列的温湿度测量产品:变送器、记录器、手持表、指示器、探头、传感器和湿度发生器,用于测量和校准相对湿度、温度、露点、水分活度和各种湿度学参数。
S8000 RS是高精度冷镜式露点仪,提供准确和可重复的露点和湿度测量。可以用作在标准实验室内的参照仪器,也可用于需要准确控制湿度的工业领域,比如半导体生产。该高精度的露点仪具有非常宽的量程和较小的体
S8000 RS高精度冷镜式露点仪 产品信息

S8000 RS是高精度冷镜式露点仪,提供准确和可重复的露点和湿度测量。可以用作在标准实验室内的参照仪器,也可用于需要准确控制湿度的工业领域,比如半导体生产。该高精度的露点仪具有非常宽的量程和较小的体积,以及对湿气含量变化的高灵敏度。测量范围广泛,从-90至+20°Cdp。辅助冷却系统的全自动控制意味着即使测得露点从范围的一端变化到另一端,也不需要操作员干预。

特点:

•精度of±0.1°C

•测量准确,可到-90°Cqd(100ppb),无需额外制冷模块

•通过触摸屏可实现简便的设置和操作

•传感器探头优化,保证在低湿环境下超快的响应时间

•紧凑的19"x 4U机箱

•重量仅22.4kg

•Ethernet或者USB连接

•SD卡数据记录

技术参数:

Measurement Accuracy*±0.1°C
重复性±0.05°C
测量原理冷镜
测量范围RS80: -80 ~ +20°Cdp
RS90: -90 ~ +20°Cdp
镜面镀金铜
温度测量4 线 Pt100, 1/10 DIN class B
样气流量500 ~ 1000 ml/min
样气压力大 1 MPa (10 barg)
外置 PRT
温度测量4 线 Pt100, 1/10 DIN class B
测量精度±0.1°C
电缆长度2m (长250m)
流量传感器
测量范围0 ~ 1000ml/min
选配的内置式压力传感器
测量范围0 ~ 1.6 MPa (0 ~ 16 bara)
测量精度全量程的 0.25%
测量单位barg, psig, kPa, MPa
显示
分辨率用户可选,大分辨率 0.001°C, 与参数有关
测量单位湿度: °C dp 或 °F dp, % RH, g/m3, g/kg, ppmV, ppmW (SF6)
温度: °C 或 °F
压力: barg, psig, kPa, Mpa
输出模拟: 三通道, 用户可选 4-20 mA, 0-20 mA 或 0-1 V
数字:通过 USB Modbus RTU 和 可选通过 RS232 或 RS485 Modbus RTU , 或通过 ethernet Modbus TCP
报警: 两路电压释放触点,一路是过程报警,一路是故障报警;1 A @ 30 V DC
HMI5.7" LCD 触摸屏,蓝底白字图案
数据记录SD 卡 (512 Mb) 和 USB 接口
支持 SD 卡 (FAT-32) - 32 GB, 可容纳2400万条数据或560天,以每2秒间隔记录
环境条件5 ~ 30°C, 高 80% RH
电源85 ~ 264 V AC, 47/63 Hz
功耗250 VA
机械参数
尺寸190 x 444 x 550mm (h x w x d)
重量22.4kg
样气管路316 不锈钢
样气连接进气: ¼" VCR
出气: ¼" Swagelok
可选一体式取样泵流量
1.4l/min

样气连接

1/4" Swagelok 带旁路回路
其他
校准5点内置校准,可追溯至国家标准
可选 UKAS认证校准 - 具体咨询厂家


* 测量精度指的是被测仪器与校准仪器之间的偏差大,此外还需加上校准系统与测量或后续使用的环境条件之间的不确定性。


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