半导体封装材料真空探针台 集成化设计产品特点
1.精密小巧
2.按需定制
3.集成化设计
4.性能稳定
搭配仪器:源表、高阻计、直流低电阻测试仪、阻抗分析仪、半导体参数分析仪
半导体封装材料真空探针台 集成化设计测试类型
R-T
C-V
I-V
R-I
Cp-D
ε测试
产品介绍
1.腔体:高真空腔体
2.样品台尺寸:4英寸
3.样品固定:弹簧压片
4.观察窗口:6英寸
5.观察窗口材质:蓝宝石(保证紫外光的透光性)
6.真空度:2帕
7.探针臂接口:4个探针臂接口
8.电学测试接口:3同轴BNC*4、2同轴BNC*2\高压接口10KV*1
9.辅助接口:真空接口、加热器接口、热电阻接口、液氮接口、保护气接口、表面温度热电阻接口*2
10.制冷方式:液氮
11.温度范围:-196℃~600℃
12.温控精度:±0.1℃
13.稳定性:-196℃-常温±0.5℃、常温-600℃±0.2℃
◆ 探针组件
1.线缆:同轴线
2.接头类型:SMA
3.漏电精度:10fA
4.固定探针:夹紧固定
5.频率支持:DC-67GHZ
6.针尖直径:0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米
◆ 光学系统
1.显微镜类型:单筒显微镜
2.放大倍率:20X-180X
3.移动行程: X轴行程100MM Y轴行程50MM Z轴行程50mm
4.光源:外置LED环形光源
5.CCD:2800万像素
6.显示器:10寸LED
◆ 高压组件
1.线缆:高压电缆10KV
2.接头类型:香蕉头
◆ 探针臂
1.X-Y-Z移动行程:20mm*20mm*20mm
2.结构:外置探针臂,真空波纹管结构
3.移动精度:10微米
◆其他组件
1.真空组件:机械泵
2.冷源组件:10L液氮罐