智慧城市网>产品库>仪器仪表>实验室仪器设备>恒温设备|加热设备>>Small Burn-in Tester芯片老化测试

Small Burn-in Tester芯片老化测试

参考价	￥ 11111
订货量	≥1件

具体成交价以合同协议为准

公司名称成都中冷低温科技有限公司
品牌其他品牌
型号
所在地成都市
厂商性质生产厂家
更新时间2025/4/2 15:34:23
访问次数146

产品标签:

芯片老化测试 Small Burn-in Tester 高加速老化寿命试验箱芯片高低温测试 zonglen

在线询价收藏产品点击查看联系电话

索取相关资料

公司介绍主营产品

　　成都中冷低温科技有限公司总部位于中国成都，是一家专业的泛半导体高低温智能装备企业，中冷低温主要生产超低温制冷机、高低温冲击气流仪(ThermoTST热流仪)、接触式高低温冲击机 (ATC/TCU)、三温液冷机 (Chiller)、高加速寿命试验箱(BHAST/UHAST)、晶圆卡盘(ThermoChuck)、快速温变箱、温度冲击箱等，为晶圆、芯片、光通信、汽车电子、激光、集成电路、航空航天、天文探测、电池包、氢能源、移动储能等领域的制造和测试过程中提供整套温度环境解决方案。中冷低温已超过15个国家提供产品和服务，服务网点遍布全国，在北京、上海、苏州、昆山、深圳、西安、武汉、重庆设有办事处。

展开显示更多内容

超低温制冷机、高低温冲击气流仪（ThermoTST热流仪）、接触式高低温冲击机（ATC/TCU）、三温液冷机 (Chiller)、高加速寿命试验箱（BHAST/UHAST）、晶圆卡盘（ThermoChuck）、快速温变箱、温度冲击箱

产品简介在线询价

Small Burn-in Tester芯片老化测试，高低温在线测试系统是为航空、航天等单位开发生产的电子元器件常温、高温、低温在线测试专用设备。能使用户在高低温条件下对半导体分立器件、光耦、运放、电压调节器等集成电路电子元器件实时测试，免去了以往要拿出高低温箱再进行测试的不便及误差。

Small Burn-in Tester芯片老化测试产品信息

页面价格供参考，具体请联系报价)

Small Burn-in Tester芯片老化测试

高低温在线测试系统是为航空、航天等单位开发生产的电子元器件常温、高温、低温在线测试专用设备。能使用户在高低温条件下对半导体分立器件、光耦、运放、电压调节器等集成电路电子元器件实时测试，免去了以往要拿出高低温箱再进行测试的不便及误差。

Small Burn-in Tester芯片老化测试

◆测试舱温度范围:-55℃至 +150℃(-65℃至 +200℃可选)

◆ 测试舱温度稳定性:±2℃

◆ 测试舱温度稳定均匀度:±2℃