X射线镀层测厚仪应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
仪器镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款仪器，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量*的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
射线在穿透一定厚度的物质时，其强度呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：
I=Tr*EXP(-UX)
Tr为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。
对于不同的材料，衰减系数U是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言，材料密度越大，其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是zui大的，其相应的射线阻挡能力就越强，因此在核实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。
镀层测厚仪采用电磁感应法测量镀层厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电阻感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，这个距离即镀层厚度。
测量方式：
X射线镀层测厚仪两种测量方式：
连续测量方式（CONTINUE）
单词测量方式(SINGLE);
两种工作方式：
直接方式（DIRECT)
成组方式（APPL）;
五个统计量：
平均值（MEAN）
zui大值（MAX）
zui小值（MIN）
测试次数（NO.）
标准偏差（S.DEV）。
