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电子探针-面分析

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具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称武汉上谱分析科技有限责任公司
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  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/5/26 12:26:01
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武汉上谱分析成立于2013年1月,已获得CMA资质认证,GeoPT、G-Probe国际盲样分析检验水平,是国内提供专业地球化学综合分析测试服务的实验室,提供碎样、磨片、单矿物分选、制靶、透反射、阴极发光、LA-ICP-MS各类矿物U-Pb定年、LA-ICP-MS微区原位微量元素分析、LA-MC-ICP-MS微区原位同位素比值分析、ICP-MS 微量元素分析、MC-ICP-MS 同位素比值分析、XRF主量元素分析、二价铁含量分析,EPMA电子探针分析等测试服务。公司技术人员来自地质院校,从业经验丰富,同时聘请地化专家团队作为技术顾问,全力为客户提供专业的分析测试服务。
测试项目:电子探针测试对象:岩石矿物镶嵌靶、探针片测试周期:5-10个工作日,可提供样品测试加急服务
电子探针-面分析 产品信息
测试项目:电子探针
测试对象:岩石矿物镶嵌靶、探针片
测试周期:5-10个工作日,可提供样品测试加急服务。
送样要求:1、靶、探针片等样品表面平整、光滑,避免影响数据质量;2、提前将测试点位用半圆圈起,并将各点位直线连接以便测试时快速定位,具体请咨询相关技术人员。
完成标准:仪器状态良好,监控标样测试值在允许误差范围内。
方法描述:

24.1 EPMA方法说明

仪器型号为日本电子(JEOL)JXA8230电流:1*10-7A、电压:20kV
束斑:根据面扫区域大小及图像分辨率适当选择(分辨率>256*256

采样时间:根据束斑及分辨率计算(≈2小时)
以上为常规测试条件,如需高精度面扫图像可根据需求进行调整。
硅酸盐矿物各元素含量校正标样均为天然矿物,部分金属及硫化物元素含量校正标样为纯物质:Au、Ag、Co、V,其余为天然矿物标样。

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