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科佩尔CATE IPM测试仪替代品

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具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称西安谊邦电子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地西安市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2024/5/17 17:00:17
  • 访问次数73
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西安谊邦电子科技有限公司为国家*产业园、西安市重点支持的*。主要从事半导体分立器件测试系统的研发、生产与销售等业务。公司主要技术人员均来半导体技术研究所,拥有丰富的专业技术知识和多年的测试产品研发经验。 公司引进美国*半导体测试技术,在此基础上研制生产了系列半导体分立器件测试系统,该测试系统拥有功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点,各项技术指标均达到*水平。 谊邦电子研发技术涉及集成电路测试、半导体分立器件测试等领域。产品主要应用于汽车、飞机、船舶制造、能源等行业领域。 科技创新、服务无限,是我们工作的宗旨。

主营范围:1.IGBT测试系统 2.半导体分立器件测试仪 3.高速大功率半导体分立器件测试系统 4.分立功率器件测试仪 5.可控硅整流器测试(仪) 6.MOS 场效应管测试(仪) 7.三端稳压器测试(仪) 8.绝缘栅双*功率晶体管IGBT测试(仪) 9.光电耦合器测试(仪) 11.继电器测试(仪)

 

分立器件测试,图示仪,大功率IGBT测试仪,雪崩测试仪
IPM,即智能功率模块,是*的混合集成功率器件。一般使用IGBT作为功率开关元件,内部集成电流传感器及驱动电路的集成结构。
IPM模块需要测试的特性参数很多,其中关键的测试参数为开关特性(时间特性)的测量。该系统在解决IPM的控制信号以及高速数据采集处理两个关键技术的条件下,是一套基于DSP及FPGA的高速实时测试系统。
科佩尔CATE IPM测试仪替代品 产品信息

ENI1220 IPM 测试系统

科佩尔CATE IPM测试仪替代品

 

系统概述

 

基础配置

 

IPM,即智能功率模块,是*的混合集成功率器件。一般使用IGBT作为功率开关元件,内部集成电流传感器及驱动电路的集成结构。

IPM模块需要测试的特性参数很多,其中关键的测试参数为开关特性(时间特性)的测量。该系统在解决IPM的控制信号以及高速数据采集处理两个关键技术的条件下,是一套基于DSP及FPGA的高速实时测试系统。

 

电压

电流

 

 

标配

选配

标配

选配

 

 

1200V

1000V

200A

200A

 

 

2200V

400A

 

 

3300V

600A

 

 

4500V

1000A

 

 

6000V

2000A

 

配置/短路测试

 

电压

电流

短路测试

 

标配

选配

标配

选配

项目

范围

误差

分辨率

 

1200V

2200V

200A

400A

VPN

100V~1200V

±3%

10V

 

3300V

600A

测试电流

10A~75A

±3%

1A

 

4500V

1000A

短路电流

100A~500A

±3%

1A

 

6000V

2000A

短路时间

1 uS~10uS

可调

可调

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

测试功能

 

测试范围

测试参数

 

IPM

BVCES, BVRRM, BVSCES, ICES, IRRM, VCE(SAT), VEC, VFBR, VDSET, VDSET-HP, ID,

UVt, UVr, OUVt, OUVr, VCIN(ON), VCIN(OFF),

ICIN(ON), ICIN(OFF), IFO(H), IFO(L), VFO(SAT), Iin leak, VCIN, ICIN,

OTc, TC-Out, td(OV), Udcout, OV, OVt, T_MEAS, V_MEAS

 

IGBT

ICES, BVCES, IGES, VF, VGEON, VTH, VTHS, ICE(SAT), VCE(SAT)

 

DIODE

VF-Temp, Temp, VF revision

 

 

 

 

参数 / 精度

 

静态参数

 

动态参数

 

上桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-H)

集电极电压Vce:

100~1200V,

误差±3%,分辨率10V

 

上桥IGBT/FRD耐压测试(Bvce-H)

 

上桥驱动IC低端静态电流测试(IDH)

集电极电流Ice:

10~75A,

误差±3%,分辨率1A

 

上桥驱动IC静态工作电流测试

(Iqbs-U,V,W)

 

VD=VBS=15V,           

误差±3%,分辨率0.1V

 

上桥欠压保护监测电平 (UVbsd-U V W)

VIN=0~5V             

误差±3%,分辨率0.1V   

上桥欠压保护复位电平(UVbsr-U V W)

ton-L : 10~500nS,    

误差±3%,分辨率1nS

 

上桥驱动IC导通阈值电压测试

(Vth(on)-UH VH WH)

tc(on)-L :5~200nS,

误差±3%,分辨率1nS    

 

toff-L: 50~500nS,   

误差±3%,分辨率1nS

 

上桥驱动IC关断阈值电压测试

(Vth(off)-UH VH WH)

tc(off)-L: 5~200nS,

误差±3%,分辨率1nS     

 

Trr-L :10~500nS,    

误差±3%,分辨率1nS

 

上桥IGBT饱和电压测试(Vce(sat)-UH VH WH)

Eon-L :0.1~10mJ,   

误差±3%,分辨率0.1mJ  

 

上桥FRD正向压降测试(VF-(UH VH WH)

Eoff-L: 0.1~10mJ  

误差±3%,分辨率0.1mJ

 

下桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-L)

集电极电压Vce:

100~1200V,

误差±3%,分辨率10V

 

下桥驱动IC静态工作电流测试(IDL)

 

故障输出电压测试(Vfoh Vfol)

集电极电流Ice:

10~75A,

误差±3%,分辨率1A

 

过流保护阈值电压测试(Vcin(ref))

 

下桥欠压保护监测电平(UVdd)

VD=VBS=15V,           

误差±3%,分辨率0.1V

 

下桥欠压保护复位电平(UVdr)

VIN=0~5V             

误差±3%,分辨率0.1V   

 

下桥驱动IC导通阈值电压

(Vth(on)-UL VL WL)

ton-L : 10~500nS,    

误差±3%,分辨率1nS

 

tc(on)-L :5~200nS,

误差±3%,分辨率1nS    

 

下桥驱动IC关断阈值电压

(Vth(off)-UL VL WL)

toff-L: 50~500nS,   

误差±3%,分辨率1nS

 

tc(off)-L: 5~200nS,

误差±3%,分辨率1nS     

 

下桥IGBT饱和电压测试(Vce(sat)-UL VL WL)

Trr-L :10~500nS,    

误差±3%,分辨率1nS

 

下桥FRD正向压降测试(VF-(UL VL WL)

Eon-L :0.1~10mJ,   

误差±3%,分辨率0.1mJ  

 

 

 

Eoff-L: 0.1~10mJ  

误差±3%,分辨率0.1mJ

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