美标CST-50冲击试样缺口投影仪(ASTM),是检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。仪器光学系统质量优良,物镜成像清晰,放大倍率准确,精密高效,是材料冲击试验的光学检测仪器。精度达到45±1°,符合广大用户的实际需求,满足美标标准ASTM E23-2002a的要求,EN10045、ISO148,ISO0083等国内外标准中的相应要求,可同时满足GB2106-80《金属夏比(V型缺口)冲击试验方法》和GB229-94-2007《金属夏比(U型缺口)冲击试验方法》。
二、工作原理:
美标CST-50冲击试样缺口投影仪(ASTM)利用光学投影方法, 将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与美标ASTM E23-02标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格。操作简便,检查对比直观,效率高, 是目前切实可行、并能保证检查质量的方法。