| CSM 超细颗粒粒度分析仪是一种基于消光法原理的新型颗粒粒度分析仪器，用于测量超细颗粒的粒度分布。本仪器由主机，计算机和打印机，仪器操作软件等组成。仪器具有操作简单，测量时间短，操作软件良好的人机对话界面等优点。可广泛用于电子，光学，化工，医药等行业测量超细固体颗粒、悬乳剂、悬浮液等的颗粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方图形式给出被测颗粒的粒度分布和累积分布的测量结果，以及D32， Dv50 等多种平均粒径和比表面积。 主机内包括光源，光学系统，测量样品池，光电信号转换及放大系统，A/D 数据采集卡等。主机输出信号通过USB 电缆与计算机的USB口相连接，计算机对主机测量进行控制和数据处理，并打印输出结果。 技术特点 1.大功率白色光源 2.美国海洋光学光谱接收器 3.集多年研究之成果，消光理论的上乘应用 4.反演算法，保证颗粒测量的准确 5.USB 接口，仪器与计算机分离，可配任意具有USB 接口之计算机；台式、笔记本、移动PC 均可； 6.微量固定样品池，超高感应灵敏度，仅需少量样品 7.软件个性化，提供测量向导等众多功能，方便用户操作； 8.测量结果输出数据丰富，保存在数据库中，能用任意参数，如操作者姓名，样品名，日期，时间等进行调用分析，与其他软件实现数据共享； 9.仪器造型美观，体积小重量轻； 10.测量精度高，重复性好，测量时间短； 11.软件提供众多物质折射率供用户选择，满足用户查找被测颗粒折射率要求； 12.考虑到测试结果的保密要求，只有操作者才能进入相应数据库读取数据和处理； 技术参数 光源功率：20 瓦12 伏卤素灯； 粒径测量范围：0.05μm－10.0μm 重复测量误差：< 2％； 测量误差： <3％ (用国家标准颗粒检验)； 数据输出：体积、数量微分分布和累积分布表和图表；多种统计平均直径；操作者姓名、单位、样品名；选用折射率，测量时间等相关信息。 通讯接口：USB 接口。 样品池：固定样品池 测量分析时间：正常条件下小于 1 分钟（从开始测量到显示分析结果）。 工作环境温度：5－30 ℃； 电源：180－240V，50 Hz； 外形尺寸：320X280X120 mm3； 重量：约 3.5 公斤 工作条件 室内温度：15℃-35℃ 相对温度：不大于85%（无冷凝） 建议用交流稳压电源1KV，无强磁场干扰。 由于在微量级的范围内的测量，仪器应放在坚固可靠、无振动的工作台上，并且在少尘条件下进行测量。 仪器不应放在太阳直射、风大或温度变化大的场所。 设备必须接地，保证**和高精度。 室内应清洁、防尘、无腐蚀性气体。 工作原理 消光法(Extinction)是光散射颗粒测量技术中的一种，又称浊度法(Turbidimetry)。消光法的基本原理是，当光束穿过一含有颗粒的介质时，由于受到颗粒的散射和吸收，使得穿过介质后的透射光强度受到衰减，其衰减程度与颗粒的大小和数量(浓度)相关，这就为颗粒测量提供了一个尺度。与散射光能颗粒测量方法显著不同的是，消光法测量时所接收的不是颗粒的散射光，而是非散射光(透射光)，所以光强较强。光源大都采用白光而不是单色激光，此外，除颗粒粒径外，消光法还能同时测得颗粒的浓度，与其它光散射方法相比，这是它的一个突出特点。 消光法的原理简单，测量方便，对仪器设备的要求较低，测量范围相对较宽，下限为数十个纳米，上限约10μm 左右，测量结果准确，重复性好，测量速度快。因此，该方法不仅在胶体化学，高分子化学  (1) 式中τ 是介质的浊度。  图1 消光法测量原理 设颗粒群在介质中的空间分布是无序而均匀的，即浊度τ 与光程L 无关，将式(1)沿整个光程积分  (2) 则透射光的强度为  (3) 式(3)即是杰出的Beer-Lambert 定理，它描述了光在颗粒介质中的衰减规律。 如果被测量颗粒是球形颗粒，且各个颗粒的光散射满足不相关的单散射，则可知，N 个粒径为D，迎光面积为a 的单分散颗粒系(Monodispersion)由于光的散射和吸收而导致的浊度为  (4) 式中Kext 称为消光系数(Extinction Coefficient)，是入射光波长λ、被测颗粒直径D、颗粒相对于周围介质的相对折射率m(= n − iη )的函数，可以由经典Mie 光散射理论计算得到。将式(4)代入式(3)后可得  (5) 式中比值I/ Io 称为消光或消光值。实际情况下，被测量的颗粒大多不是单分散颗粒系， 而是有一定尺寸分布范围的多分散颗粒系(Polydispersion)，此时，该介质的浊度为  (6) 代入式(3)后得  式中a 和b 分别是颗粒尺寸分布的下限和上限，N(D)是以颗粒数计的尺寸分布函数或频度函数。 由式(5)或式(7)可知，入射光的衰减I /I 0 中包含有颗粒尺寸和浓度(颗粒数)的信息，从而为它们的测量提供了一个尺度。为此，消光法可以归结为：测得入射光和透射光的强度Io 和I 或其比值I /I 0，已知入射光波长λ，光程L 和被测颗粒折射率m 后，就可得到颗粒 的尺寸分布函数N(D)及浓度，此时体积浓度可表示为  (8) 乘以颗粒的密度后即得其重量浓度。  图2.仪器实样 | 
