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IGBT动态参数测试仪

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  • 公司名称深圳市华科智源科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地深圳市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2024/4/2 8:02:13
  • 访问次数253
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   深圳市华科智源科技有限公司,是一家专业从事功率半导体测试系统自主研发制造与综合测试分析服务的*,坐落于改革开放之都-中国深圳,核心业务为半导体功率器件智能检测准备研制生产,公司产品主要涉及SMT*检测仪,MOS管直流参数测试仪,MOS管动态参数测试仪,IGBT动态参数测试系统,IGBT静态参数测试仪,在线式检修用IGBT测试仪,变频器检修用IGBT测试仪,IGBT模块测试仪,轨道交通检修用IGBT测试仪,风力发电检修用IGBT测试仪,产品以高度集成化、智能化、高速高精度、超宽测试范围等竞争优势,将广泛应用于IDM厂商、器件设计、制造、封装厂商及高校研究所等;
    华夏神州,科技兴国,智能创新,源远流长;华科智源公司 核心团队由华中科技大学等国内高校研究所、行业应用专家等技术人才组建,致力于中国功率半导体事业,积极响应国家提出的中国制造2025战略,投身于半导体测试设备。
    深圳华科智源科技有限公司-,功率器件测试方案供应商,2025中国制造 • 芯片设计及封装 • 新能源及轨道交通 • 来料选型。

首件检测仪,首件检测系统,SMT智能首件检测仪,首样检测,首板确认
IGBT动态参数测试仪测试方法符合GB/T29332-2012/IEC 60747-9: 200 及GB4023-83 等相关标准。采用计算机记录测试结果,并转化为EXCEL文件进行处理。
IGBT动态参数测试仪 产品信息

IGBT动态参数测试仪简介

该系统是一套动态综合测试系统、测试参数多、精度高、 具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点,测试程序由计算机控制,程序设定完成后可自动测试, 系统采用内控和外控两种方式。便于工作人员操作。

HUSTEC1220 功率循环测试系统

IGBT动态参数测试仪技术指标:

加热电流

直流50-500A 显示精度0.1 A±3%

加热时间

20-60s,冷却时间:20-60s

散热要求

1分钟内完成器件加热到结温降温到40℃的一个循环

热敏测试单元

热敏电流

50mA-999mA 分辨率0.1mA 精度±3%

1A-10A   分辨率0.1A  精度 0.1A±3%

热敏电压

1V-10V 分辨率 1mV精度±2%

 

热阻单元

功率计算

饱和压降 0.3-5V 分辨率 0.01V精度±2% 导通电流分辨率0.1 A精度±3% 

温度采集

温度采集单元分辨率0.1℃精度±0.1℃热阻测试器件数量为1只。Vce/Ic/热敏电压/壳温各采一路

循环次数

1-20000次

按时间控制

显示每只器件的壳温,采集壳温的位置依据被侧器件的相应标准规定

按结温控制

显示一只器件的结温,6只器件壳温

被测器件

6只(二单元串联结构)或1只6单元 IGBT桥模块,IGBT桥模块按三组循环加热、 占空比30%的工作方式进行设计和试验

数据显示

计算机显示壳温、试验电流、试验次数、记录结果,并可转为EXCEL文件

脱机显示

脱机状态,面板显示6个工位的壳温,试验电流/次数、加热/冷却时间

水路

水路的回水采用开放式输出,冷却水路由甲方提供

电源

采用全波整流的直流电源,电流大小通过调压器手动调节。被测器件为二单元串联结构 时,采用6只器件串联试验;
被测器件为六单元全桥模块时,负载为一只模块。 电源共一组,输出电流50-500A

测试参数

可测试器件稳态热阻Rth(J-C)

散热

设备采用水冷散热

该系统是一套动态综合测试系统、测试参数多、精度高、 具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点,测试程序由计算机控制,程序设定完成后可自动测试, 系统采用内控和外控两种方式。便于工作人员操作。

 

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