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该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
u 主要性能指标
※ 波长范围及峰值波长：
UV－340探头：λ：(315～370)nm；λP＝340nm
※ 辐照度测量范围：
(0.1～199.9×103)μW/cm2
※ 紫外带外区杂光：
UV340：小于0.05％
※ 余弦特性：
符合国家二级光照度标准
※ 示值相对误差：
±10％
※ 响应时间：
1秒
※ 使用环境：
温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
※ 尺寸和重量：
180mm×80mm×36mm；0.2kg
※ 电源：
9V积层电池（6F22型）一只
