完整的生产测试,无需牺牲空间
满足您的所有生产测试需求,在同一空间内有两条隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源,在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内,测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
特点
- 在同一空间内可有 2 条通道
- 最宽的电压和电流动态范围
- 高度准确的 100 µs 脉冲可扩展直流生产测试能力
嵌入式脚本提供的生产吞吐量
满足您的所有生产测试需求,在同一空间内有两条隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源,在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内,测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
特点
- 消除与 PC 之间耗时的总线通信
- 高级数据处理和流量控制
- 通用型探头/处理程序控制
系统性能,无主机
TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道,支持高速、SMU-per-pin 并行测试(而不使用主机)。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。
特点
- 支持 <500 ns 通道间同步
- 可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道
- 随着测试要求变化轻松重新配置
适合生产的低电流性能
2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范围内提供 0.1 fA、10-16 分辨率,减少超低电平样本检定烦恼,确保生产成功。
特点
- 在电流范围内稳定时间快 7 倍
- 具有市面上的低电流分辨率
- 直接三芯同轴连接简化了设置