产品详情
u方案介绍
基于已有IV测试仪,设备内部增加EL测试模块,通过伺服电机及导轨组成的自动化测试模块,在测试箱内部进行IV与EL的交替测试;在不影响IV测试的同时进行EL测试;避免被测组件重复搬运,简化测试流程。
u功能特点
自动化程度高,减少搬运环节。
设备集成度高,缩短测试周期。
现场升级改造时间周期短,小于1天。
伺服电机驱动,安全稳定。
EL测试功能,高低电流一键测试、缺陷分类、信息水印、数据查询及导出、缺陷分析、报告导出等。
u方案介绍
基于已有IV测试仪,设备内部增加EL测试模块,通过伺服电机及导轨组成的自动化测试模块,在测试箱内部进行IV与EL的交替测试;在不影响IV测试的同时进行EL测试;避免被测组件重复搬运,简化测试流程。
u功能特点
自动化程度高,减少搬运环节。
设备集成度高,缩短测试周期。
现场升级改造时间周期短,小于1天。
伺服电机驱动,安全稳定。
EL测试功能,高低电流一键测试、缺陷分类、信息水印、数据查询及导出、缺陷分析、报告导出等。
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