维修美国XIA粒子计数器
美国XIA粒子计数器 粒子计数器-UltraLo-1800
UltraLo-1800采用了电子背景抑制的技术，该技术将可达到的背景速率驱动到0.0001 alphas / cm2 / hr或更低。这是目前可用的常规比例计数器系统所能达到的50倍或更大的倍数。
美国XIA LLC为大学研究，国家实验室和行业中的X射线，γ射线和其他辐射探测器发明应用，开发和销售数字数据采集和处理系统。一般而言，我们的仪器分为三大类-支持X射线探测器，伽马射线探测器和超低本底计数。我们的X射线光谱电子学产品涵盖了从手持式和台式应用的低成本OEM卡到PXI和独立模块的各种光谱，这些模块可用于同步加速器和其他地方的超高速率计数。我们的核光谱电子覆盖越来越宽范围的从脉冲形状分析使用高速闪烁体（典型地）研究中的应用，以非常高的能量分辨率的HPGe光谱法，以重合的数据收集在大核物理检测器阵列。超低本底仪器结合了反巧合和脉冲形状分析功能，可以可靠地对每天仅产生少量计数的样品进行计数。
产品范围：
美国XIA粒子计数器、伽马射线探测器、数字脉冲处理器、X射线探测器、偏置电源。
主要型号：
UltraLo-1800、FalconX8、Pixie-16、FalconX8、DP-03
应用领域:
医疗、半导体、物理
相关产品介绍：
粒子计数器-UltraLo-1800
UltraLo-1800采用了电子背景抑制的技术，该技术将可达到的背景速率驱动到0.0001 alphas / cm2 / hr或更低。这是目前可用的常规比例计数器系统所能达到的50倍或更大的倍数。
通过使用新颖的双通道脉冲形状分析技术，UltraLo- 1800能够区分被测样品发射的α颗粒和计数器结构其他部分发射的α颗粒。
特征：
UltraLo-1800是无窗超低本底Alpha粒子计数器，旨在测量固体材料的Alpha粒子发射率。
-电子背景抑制：大大减少了计数时间；在数小时或数天而不是数周或数月的时间内测量ULA样品。
-创新的样品分析：能量信息可识别样品表面上的同位素
-通过CounterMeasure进行完整的仪器控制：运行管理，数据分析，系统运行状况指标等等。
