宽频介质损耗测试仪
介电常数：介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场（真空中）与最终介质中电场比值即为介电常数(permittivity),又称诱电率。如果有高介电常数的材料放在电场中，场的强度会在电介质内有可观的下降。
介电常数是描述材料对外电场响应的重要参数，是在学习过程中很容易被忽视的一个重要概念。随 着学习的不断深入，对介电常数的认识也会越来越深刻：介电常数由各向同性线性电介质中的标量到描述各 向异性晶体的矩阵形式最后发展为描述交变电场中具有能量损耗的复数形式。但是，当电场强度较大时，极化 强度不再仅与电场强度的一次方有关，会出现复杂的非线光学效应。
智德创新公司研制的产品。它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达160MHz，信号源具有信号失真小，频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性，主电容调节用步进马达控制，频率和电容值可设置，电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示。在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。ZJD-C有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。
宽频介质损耗测试仪参数及型号：
项目/型号 | ZJD-B | ZJD-A | ZJD-C |
信号源 | DDS数字合成信号 | ||
频率范围 | 10KHZ-70MHZ | 10KHZ-110MHZ | 100KHZ-160MHZ |
信号源频率覆盖比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
采样精度 | 11BIT | 12BIT | |
信号源频率精度 | 3×10-5 ±1个字,6位有效数 | ||
Q值测量范围 | 1～1000自动/手动量程 | ||
Q值量程分档 | 30、100、300、1000、自动换档或手动换档 | ||
Q分辨率 | 4位有效数，分辨率0.1 | ||
Q测量工作误差 | ＜5% | ||
电感测量范围 | 1nH～8.4H,；分辨率0.1 | 1nH～140mH；分辨率0.1 | |
电感测量误差 | ＜3% | ||
电容直接测量范围 | 1pF～2.5uF | 1pF～25uF | |
调谐电容误差分辨率 | ±1pF或＜1% | ||
主电容调节范围 | 30～540pF | 17～240pF | |
谐振点搜索 | 自动扫描 | ||
自身残余电感扣除功能 | 有 | ||
大电容值直接显示功能 | 有 | ||
介质损耗直读功能 | 有 | ||
介质损耗系数精度 | 万分之一 | ||
介质损耗测试范围 | 0.0001-1 | ||
介电常数直读功能 | 有 | ||
介电常数精度 | 千分之一 | ||
介电常数测试范围 | 0-1000 | ||
LCD显示参数 | F,L,C,Q,LT,CT,波段等 | ||
准确度 | 150pF以下±1pF；150pF以上±1% | ||
Q合格预置范围 | 5～1000声光提示 | ||
环境温度 | 0℃～+40℃ | ||
消耗功率 | 约25W | ||
电源 | 220V±22V，50Hz±2.5Hz | ||
极片尺寸 | 38mm/50mm(二选一) | ||
极片间距可调范围 | ≥15mm | ||
材料测试厚度 | 0.1-10mm | ||
夹具插头间距 | 25mm±0.01mm | ||
夹具损耗正切值 | ≤4×10－4 （1MHz） | ||
测微杆分辨率 | 0.001mm | ||
测试极片 | 材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm | ||
