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工业介质损耗角正切值试验仪

参考价 78000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称北京智德创新仪器设备有限公司
  • 品       牌智德创新
  • 型       号
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/2/11 14:48:06
  • 访问次数343
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北京智德创新仪器设备有限公司注册资金5000万,是集研发、生产、销售、服务、管理为一体的高科技企业。是以中国航空航天研究院、中国为重要依托。联合清华大学、北京航空航天大学、北京工业大学精仪系专家作为公司技术团队。公司总部坐落于美丽富饶的政治经济文化交流中心——北京市,物华天宝,人杰地灵。 北京智德创新仪器设备有限公司 自创建以来,一直保持着健康稳定的发展态势,并以超过30%的年均增长速度快速持续发展,完善的客户服务体系,确保了中航产品的设计*,质量稳定,供货及时和服务周到。公司拥有自主的设计资质,已获得十余项。公司拥有一批专业从事设计、制造、安装、调试及售后服务的员工队伍。在工程设计和技术研发上,公司拥有部级精仪高级工程师的专家团队和专业、勇于创新的中青年专业技术人员和项目人员;中航本着“创造自我,缔造辉煌”的坚定信念。 展望未来,北京智德创新仪器设备有限公司正在以打造基业长青百年企业的发展目标为指导,全面提升内部管控,按照专业化、规模化、品牌化、资本化的发展策略,持续。同时,北京智德创新仪器设备有限公司不断致力于与企业集团强强合作,以共创中国精密仪器行业的美好明天而不断努力。
工业介质损耗角正切值试验仪的基本原理是采用高频谐振法,并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机控制仪器,测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至0低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量时更为精确。
工业介质损耗角正切值试验仪 产品信息

工业介质损耗角正切值试验仪简介:

638132706436706090208.jpg

工业介质损耗角正切值试验仪参数设置:

功能名

ZJD-A

ZJD-B

ZJD-C

源范DDS字合成信

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

100KHZ-160MHz

率精度:6位有效

3×10-5 ±1

3×10-5 ±1

3×10-5 ±1

Q量范

1-1000/量程

1-1000/量程

1-1000/量程

Q分辨率

4位有效,分辨率0.1

4位有效,分辨率0.1

4位有效,分辨率0.1

Q量工作

<5%

<5%

<5%

量范:4位有效,分辨率0.1nH

1nH-8.4H   , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H   分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

<5%

<5%

<5%

调谐电

30-540pF

30-540pF

17-240pF

容直接量范

1pF2.5uF

1pF2.5uF

1pF25nF

调谐电
 
分辨率

±1 pF<1%
0.1pF

±1 pF<1%
0.1pF

±1 pF<1%
0.1pF

振点搜索

动扫

动扫

动扫

LCD参数

FLCQLtCt

FLCQLtCt

FLCQLtCtTnEr

感自扣除功能

直接示功能

2.5uF

2.5uF

25nF

质损耗系

精度   万分之一

精度   万分之一

精度   万分之一

精度   千分之一

精度   千分之一

精度   千分之一

材料测试厚度

0.1mm-12mm

0.1mm-12mm

0.1mm-12mm

动测试

动测试

动测试

USB接口



支持介数输出以及生曲线

性能定性能是指在电场作用下,对静电能的蓄和耗的性,通常用介和介质损表示.

,又称电容率〔permittivity ,位移D与电场强度E之比ε= D/E ,其F/m

小的,其分子性或弱造,介大的,其分子为极性或强造。

是表征的最根本的量,是衡量电场下的化行荷能力的参数

质电容、介

      C0=Q0/V=e0s/d

    C=Q/V=ereos/d

  εr = C/C0

Co = Q/V = eoA/d

C = eA/d                   er= e /eo

电损    Dielectric loss  

的介电损耗是指时间内位体将电转换为热能而耗的能量。

的介电损耗一般用耗角正切tand 表示,义为

tand=质损耗的功率(即有效功率)/无功功率

,介电损耗也是表示绝缘材料〔如绝缘油料〕量的指之一。介电损耗愈小,绝缘材料的量愈好,绝缘性能也愈好。

tanδ=1/WCR(式中W变电场的角率;C质电容;R为损)

tand率的函,是的自身性,与试样的大小和形。可以和介时测量,用介质损电桥Q表等量。

           电导时tand与频ω的



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