牛津全自动无损镀层膜厚仪厂家推出的X-Strata920系列X射线荧光膜厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows 7中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对X-Strata920主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、大值、小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
X-Strata920膜厚仪适用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品等多个行业。对这些行业的表面镀层厚度进行测量及分析，测量元素范围钛Ti22-铀U92,测量镀层加底材一共五层，同时分析15种元素。快速无损测量，10秒内得出测量结果 。
X-Strata920膜厚仪对于这些行业来说，达到了一个高效率，低成本的特性。深圳市谱赛斯科技有限公司是牛津全自动无损镀层膜厚仪厂家认证的代理商。
