高压电桥常数介质损耗测试仪

高压电桥常数介质损耗测试仪技术参数

1 Q值测量范围：5～999

Q

值量程分档：30、100、300、999、自动换档或手动换挡
误差：25kHz～10MHz   ≤5%±满度值的2%

10MHz

～50MHz  ≤7%±满度值的2%

2

电感测量范围：0.1μH～1H  分七个量程

3

电容测量范围：1PF～460PF
主电容调节范围：40PF～500 PF

准确度：150PF以下±1.5PF

150PF

以上±1%
微调电容调节范围：-3PF～0PF～+3PF
准确度：±0.2PF

4

频率覆盖范围：25 kHz～50MHz 分七段
指示误差：2×10-4±2个字

5

电源：220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

6

环境温度：(0～+40)℃

7

相对湿度：RH<80%

8

外形尺寸：380mm×132mm×280mm

9

重量：约7kg
仪器介绍

全数字显示介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。
数字式介电常数及介质损耗测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪器.
高压电桥常数介质损耗测试仪技术参数

ZJD-C高压电桥介电常数介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。
技术参数

ZJD-C

介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术：

1

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

2

双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

4

自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

6 DDS

数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。

7 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

ZJD-C

介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。