韩国微先锋XRF-2000膜厚仪
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选
镀层厚度测试范围：0.03－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒
XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号
不同型号各种功能一样
机箱容纳样品大小有以下不同要求
XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm仪器功能
XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统：彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
1、测量的厚度范围为0.03微米～35微米。
2、可满足的测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍等
3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量，不限底料。
韩国微先锋X-RAY膜厚仪
三、设备功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系统
使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜层
拥有多种滤波器选择
各种样品单层至多层（5层），合金膜层与溶液均可测量
定点自动定位分析
光径对准全自动
影像重叠功能
自动显示测量参数
彩色区别测量数据
多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制镭射对焦与自动定位系统
韩国微先锋X-RAY膜厚仪
