区别于传统的三坐标检测、影像仪等测量方法，工业CT尺寸测量优势在于产品的内部尺寸检测。它可以在不破坏样品的前提下，对于工件的所有尺寸进行测量，精度高、速度快。
三维X射线扫描（简称CT）是以非破坏性X射线透视技术，将待测物体做360°自转，通过单一轴面的射线穿透被测物体，根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同，收集每个角度的穿透图像，之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。
CT是采用计算机断层扫描技术对产品进行无损检测（NDT）和无损评价（NDE）的手段，利用断层成像技术，可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。
CT扫描取代传统的破坏性监测和分析，任何方向上的非破坏性切片和成像，不受周围细节特征的遮挡，可直接获得目标特征的空间位置、形状及尺寸信息。
图为某客户送检样品，通过CT扫描分析，装配件内部尺寸测量，内部零件之间的尺寸，形位公差测量。
原文标题：工业CT检测-尺寸测量
