| 高速响应和高稳定度 |
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 | 时间常数 |  时间常数 |
| 最小时间常数为1 μs 的LI5660/LI5655 (LI5650/LI5645为5 μs). | ||
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| | 同步滤波 | |
| 这是一个整数周期移动平均滤波器。由检测引起的纹波大大降低，并且输出几乎是在平均间隔（整数周期），所以时间常数可以减少（以获得更快的响应） | ||
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| | 即使低频也可高速锁定 | |
| 即使在低频率，它只需要大约两个周期，便可锁定参考信号。此外，一个移动的平均滤波器与信号周期同步获得一个小的纹波的高速响应 . | ||
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| | 的动态储备 | |
| 相位检测和随后的数字处理。在高增益的输出零点漂移少于模拟系统，可以得到高达100 dB的动态储备（测试可以执行多于灵敏度的100000次噪音，即满量程信号）. | ||
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| 电压测量可由单端完成（A）或差分（A-B）输入，LI5660终端既有10 Vrms输入（C）也有高频（HF）输入。HF输入端可用于高达11MHz的测量. |
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| 测量可以在基础波型因数的频率因数（1至63）/（1至63）进行. 提供基本波型次数倍频率的测量。在LI5660/LI5655/LI5645双频测量模式，可设置PSD和第二次PSD的个体频率。例如，PSD设置为N / M与参考信号的频率，和二次PSD设置为N次类似参考信号的频率或设置为与主要频率不同的频率. |  分次谐波 |
| 谐波测量是由两个测量频率之间的整数倍 (f2 = (f1 x n) ). 在这种情况下, 在f1 端信号结果在一个积分多频 (谐波)失真, 不能区分于f2信号. 如果是分数谐波测试, 测试可以以f2 = f1 x n/m 的关系式进行, 这意味着即使失真的谐波产生于f1, 频率也可被设定以便不影响f2. f2 高灵敏度谐波测量是可行的，且不受 f1谐波影响. | |
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| LI5660/LI5655/LI5650 搭配2相位敏感检波器 (PSD), 允许包括在一个单一输入信号中的两个频率分量的同时测量. 以往需要使用两台锁相放大器，使用双子束方法只需一台锁相放大器. 可求出测定量与基准值之比的比例运算，以及主检波器进行与副检波器的联级，可在主检波器对信号进行检波后，再用副检波器进行检波. |  检测模式 (Dual 1) | |||||||||||||||||||||
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| * LI5645的检测模式仅为 "单一"模式. | ||||||||||||||||||||||
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| 使LI5600系列按通用的10 MHz频率源于信号发生器等其他设备同步运行 (可设置) 无需使用外部参考信号(REF IN). |  外部10 MHz 参考信号输入设置 |
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| | LI5660 |
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SPM (扫描探针显微镜)的信号处理
以 STM (扫描隧道显微镜) 和 AFM (原子力显微镜)为代表的扫描探针显微镜使用纳米级的探针在样本表面上扫描，检测探针与样本之间的信号.观察样本表面的电子状态和结构，物理及化学性质。
锁相放大器用于控制样本与探针的距离等.
如采用 LI5600系列，不仅支持 MHz 量程的高谐波频率, 还可通过缩小时间常数 (从 1 μs)实现高速扫描，并可短时间内形成图像.
另外，通过同步滤波器，大幅降低相位检波输出的波动，不仅提高速度，还有助于实现高画质.
除STM和ATM，锁相放大器还应用于 KFM (表面电位显微镜)的调制信号解调等信号处理.
透光量的测量 (光源波动的消除)
如并用双频同时测量和分数谐波测量的功能，则1台 LI5660/ LI5655/LI5650就可进行双光束法(比例测量)的光源等的波动校正.
通过基准单元的信号施加负反馈，还可实现光源强度的稳定化.
可设定参照信号的整数倍(n x), 整数分之一 (1/m x)，分数比 (n/m x) ，因此可灵活对应光调制的频率比。另外，在整数比的情况下，与信号失真引起的谐波分量无法区别，而采用分数比就不受到谐波的影响.
并采用10 MHz同步功能与外部的信号发生器保持同步后，还可进行采用任意2个频率的检测.
霍尔系数的测量 (差频的测量)
霍尔电压与2种信号(电流与磁场)之积成正比,其频率为2种信号之差 (或和)频率.使产生电流和磁场的外部信号源 LI5600系列在外部 10 MHz下同步，针对任意不同的两个频率，即使没有外部参照信号 (差频)，也可进行差频信号的测量 (如使用双通道输出和频率基准输出的信号发生器等)
如果原有的频率为整数*比,则还可利用分数谐波测量功能进行差频信号的测量。并且，都可以避免由于外部参照信号而造成的串扰.
其它应用
光谱（材料科学使用俄歇电子能谱，光声光谱，拉曼光谱等）
测量光学性能（强度，吸收，散射，传输等）
光学应用测量（光学陀螺，距离检测，速度，振动等）
磁测量（评价磁性材料，振动式磁力计，利用SQUID的磁检测）
评价各种传感器（测量的物理量的光学，磁，和压电元件，化学变化等）
阻抗电桥的零点检测
阻抗测量（分钟阻抗，分钟容量，化学阻抗）
薄膜材料的热扩散系数测量
