XT-50/CST-50冲击试样缺口投影仪

一、XT-50/CST-50冲击试样缺口投影仪概述

随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行《金属夏比冲击试验方法》该标准对试样要求相当严格，所以在整个试验过程中，试样的加工是否合格会直接影响最终的试验结果。如果试样加工质量不合格，那么其试验结果是不可信的，特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳，尤其是在试验的临界值时，会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格，其质量检验是一个重要的控制手段，目前，用光学投影放大检验是切实可行的方法。

XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2020《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。

二、工作原理：

本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。

根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。