Agilent安捷伦4156C半导体参数分析仪
Agilent安捷伦4156C半导体参数分析仪
4156C 是安捷伦的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应
附加的功能：
用于高级器件表征的高精度实验室台式参数分析仪
135+3817+4533
4x 高分辨率 SMU、2xVSU 和 2xVMU
前面板填空操作
包括用于基于 PC 的 GUI 仪器控制的 Desktop EasyEXPERT 软件
测量能力
1 飞安和 0.2 微伏测量分辨率
QSCV、压力模式、旋钮扫描、待机功能
+/- 200 伏特和 +/- 1 安培大功率 SMU，可选 41501B 提供脉冲发生器功能
桌面 EasyEXPERT 软件
B1500A 半导体器件分析仪的相同测试和测量环境
直观、面向任务的参数测试方法
配备 80 多个预定义的、用户可修改的应用程序测试
自动将数据保存到硬盘驱动器或任何网络驱动器
通过 Desktop EasyEXPERT 软件进行离线数据分析和应用测试开发
