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JMS-T200GC 气相色谱-飞行时间质谱仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称捷欧路(北京)科贸有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2023/8/23 17:14:09
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  • 捷欧路(北京)科贸有限公司是日本电子株式会社(JEOL Ltd. 以下简称JEOL)在中国成立的一家独资公司,其前身是日本电子株式会社北京事务所,业务范围主要负责JEOL产品在中国地区的销售、售后业务。JEOL是世界科学仪器制造商,成立于1949 年,总部设在日本东京都昭岛市武藏野3丁目1番2号,是东京*证券交易所上市企业;事业范围主要有电子光学仪器、分析仪器、测试检查仪器、半导体设备、工业设备、医疗仪器等制造、销售和研发;其中电子光学仪器主要有透射电镜、扫描电镜、电子探针、俄歇电镜、光电子能谱及其周边设备等。
  • 捷欧路(北京)科贸有限公司的注册地点在北京市海淀区中关村南三街6号中科资源大厦南楼二层。目前中国的在职员工150人左右,五个办事处分别设在北京、上海、广州、武汉和成都;北京、上海、广州设有维修站,同时沈阳、成都、武汉、西安分别设立维修人员常驻,为国内的客户提供产品宣传推广和及时周到的售后服务;北京和上海还设有演示中心。目前在国内销售的产品主要有高性能球差校正透射电镜、场发射透射电镜、Lab6透射电镜、高分辨场发射扫描电镜、常规扫描电镜、电子探针、核磁共振谱仪、电子自旋共振谱仪、质谱等设备。
  • 捷欧路(北京)科贸有限公司北京办事处占地1400平米,有销售部、售后部、应用部、*和总务部。特别是应用部,负责用户应用培训、技术指导、样品测试等工作,北京演示中心安装各种设备10余台,用户来现场可以从制作样品到上机测试一气呵成;应用部还定期举办扫描电镜和透射电镜的应用培训,深得用户好评。售后部具有稳定的维修团队,肩负国内用户的仪器安装及维修工作。
  • 捷欧路(北京)科贸有限公司每年在中国签署的合同量保持在150台左右,*稳定。公司经营宗旨:以创造和开发为本,不断向世界高水平技术挑战,并通过产品贡献于科学进步及社会发展。
电子显微镜,生物显微镜,金相显微镜,
JMS-T200GC 气相色谱-飞行时间质谱仪产品性能进一步改进, 升级为AccuTOF GCx! 将在更广泛的领域为您提供分析解决方案。
JMS-T200GC 气相色谱-飞行时间质谱仪 产品信息

JMS-T200GC 气相色谱-飞行时间质谱仪

◇  通过高精度的精确质量测试推测元素的组成

AccuTOF GCx 能长时间且稳定地进行高灵敏度, 高分辨率, 高质量准确度的测试。此外, AccuTOF GCX 作为GC-HR TOFMS具有高数量级的动态范围, 在同一谱图内不管是测试基峰还是小峰, 质量准确度都非常高, 因此能准确地推测分子离子和碎片离子的元素组成, 基于宽动态范围还能容易地对不同浓度的混合样品进行GC/MS 测试。

◇  高分辨率

高质量准确度(不同浓度下的同一个离子峰)

八氟萘

长时间的稳定性 

◇  高灵敏度

连续测试八次100fg 八氟萘(OFN) 后, 由EIC中的积分面积标准偏差计算出仪器的检出限(IDL)为16fg。
CV :相对标准偏差 IDL :仪器检出限

◇  宽质量范围

用Direct TOFMS也能测试低聚物

AccuTOF GCx 不仅具有宽质量范围, 还有多种直接进样系统, 可以测试GC无法进样测试的大分子量样品。

聚苯乙烯5200 的FD 质谱图

◇  多种电离方法和进样技术

FI 法和FD 法 较适合于确认分子量的软电离方式

FI / FD 法与EI 法或CI 法相比, 是分子离子内部能量较小的电离方法, 由于这种软电离方式不容易引起碎片化, 因此较适合于确认分子量。

FI(Field Ionization :场电离)法

JMS-T200GC 气相色谱-飞行时间质谱仪通过GC 或标准样品进样口能将样品导入离子源。CI 源需要依据待测对象化合物选择试剂气体种类, 但FI 源不需要。

软电离技术也可以适用于难挥发性样品,对容易碎片化的含氟化合物也检测出了分子离子。

FD(Field Desorption :场解吸)法

将样品直接涂在发射体上。

很适合分析热不稳定化合物。

很适合于可溶于非极性溶剂的样品

能测试可以分散在溶剂中的粉末样品

能测试低~中极性的金属络合物。

能分析一般GC/MS 无法测试的样品, 如聚合物, 高分子材料等。

对难挥发性的离子液体也能迅速获得分子量信息。

◇ EI/FI/FD 复合离子源(选配件)

同一个离子源可以使用EI 法(硬电离方式)和 FI/FD 法(软电离方式)。可简单迅速地切换EI 和 FI/FD电离方式。

直接进样方式(选配件)

根据用途备有两种直接进样杆,电离方法可以选择EI 和CI。

DEP (Direct Exposure Probe) : 较适合高沸点化合物 / 热不稳定化合物, 将溶在溶剂中的样品涂在灯丝*。

DIP (Direct Insertion Probe):  较适合于高沸点化合物及不溶于溶剂的样品,固体样品可以直接放入的玻璃样品管

EI 和FI 结合的定性分析

对EI的质谱图可用谱库检索,根据碎片离子的成份推断可获得结构信息。另一方面根据FI检测出的分子离子能推断出分子量和元素成份。通过综合来自EI和FI的信息,就可以进行高度准确的定性分析而不必单纯地依赖谱库检索,这种组合技术对于杂质等未知成分的定性分析非常有效。

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