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光电轮廓仪 WGL

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具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称上海洪纪仪器设备有限公司
  • 品       牌
  • 型       号WGL
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2023/5/27 10:59:35
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上海洪纪仪器设备有限公司是一家专业从事分析检测仪器研发、生产、销售及服务的企业。公司始终坚持高起点、严要求,吸收引进*技术,不断自主研制开发生产出优质、高效、实用的新产品;同时不断引进国内外其他品牌的优质产品服务广大用户。目前产品主要包括公司自产的粮油食品检测仪器等,另外还是国内外多家品牌的一级代理商,主要有:美国奥豪斯、德国艾本德、北京大龙、青岛澳柯玛、美国精骐、德国德图、美国科尔帕默、德国宾得、青岛永和创信、英国艾德姆等。 上海洪纪仪器设备有限公司自创立以来,一直不断地完善自我,提高自我,积极参与市场竞争,以*的仪器,严格的科学管理,的售后服务来服务广大新老客户。公司全体员工衷心感谢您对本公司的关注和支持,期待着与广大新老用户真诚合作、共同发展。奥豪斯简介:总部位于美国新泽西的奥豪斯公司,是专业生产物超所值、性能可靠、功能齐全且便于使用的天平、衡器和分析测试仪器。作为通过ISO 9001:2008认证的制造商,奥豪斯在六个国家设有生产基地,可以有效地满足市场需求并进行产品生产。同时,另外设有三个配销中心,分别位于三大洲,方便产品的快捷运送和交付。奥豪斯公司长期以来被*为一家的价值型称量设备制造商,期间不断努力通过各种方式创造价值,并通过了解不断变化的市场及预测其未来发展趋势,为客户提供满足其需求的产品。同时奥豪斯在二十几个国家拥有销售和服务机构,各地的客户可以方便地得到奥豪斯的服务和支持。艾本德简介:德国艾本德股份公司(Eppendorf)总部设在德国汉堡,是一家的生命科学公司,专注于研发和销售实验室的液体处理、样品处理和细胞处理的仪器、耗材和服务。Eppendorf 产品广泛应用于学术科研和商业研究机构,如制药、生物技术以及化学分析和食品行业,以及临床和环境分析实验室、法医检测和进行需要过程分析、生产及质控的工业生产实验室。大龙兴创实验仪器(北京)有限公司总部位于中国北京市,集研发、贸易、生产于一体的实验室通用小型仪器设备制造公司之一。随着国际市场和客户服务需求与日俱增,公司在美国、印度和中东地区分别设立了分公司,并于2016年更名为DLAB Scientific。DLAB产品具有高质量的性能和价值,所有产品均遵照ISO9001/13485标准进行设计和制造。青岛澳柯玛简介:“制冷专家”澳柯玛秉承“没有 只有更好”的企业信念,专注制冷技术研发和产品制造,是世界的制冷装备供应商。大的冰柜制造中心,拥有制冷研发中心实验室,和青岛市超低温制冷技术重点实验室 ,产品品质更可靠、相关资质更全面。美国精骐:位于德克萨斯州达拉斯市主要从事生物、医学工程仪器设备及实验室各种易耗品的自主研发、生产和营销。公司长期与美国各大生命科研院所保持着密切的联系,准确并及时地反映国际生物医学工程领域的市场动态,以“创新”、“实用”、“美观”为目标,不断开发和完善产品系列,到目前为止,已将400多种规格的产品推广至国际生命科学、医药产业的业内用户,产品设计及质量受到广泛好评。美国科尔帕默:美国Cole-Parmer仪器公司成立于1955年,是作为一个科学实验室设备的主要供应者,以其高质量的产品和优质高效的服务使产品遍及世界上130多个国家。自1987年中国以来,Cole Parmer为中国用户提供仪器设备方面的技术咨询、仪器维修,产品选型帮助等各项服务。在广大用户的支持下,Cole-Parmer的产品已经进入全国各个省份的实验室、医院和工厂,成为许多用户添置仪器设备的一个重要选择。德国德图:德图集团(testo AG)是便携式测量仪器行业的之一,总部位于德国南部的黑森林,始创于1957年,迄今已有50多年的历史,testo是便携式工业检测仪器的,其是食品级温度计的者,亦是便携式烟气分析仪的主要品牌之一。“致力于未来”是德图在经营的口号。在中国,德图一直在推动节能和环境保护解决方案,朝着绿色未来的方向迈进。
微量分光光度计
本仪器采用非接触、光学相移干涉测量方法,测量时不损伤工件表面,能快速测得各种工件表面微观形貌的立体图形,并分析计算出测量结果。适用于测量各种量块、光学零件表面的粗糙度;标尺、度盘的刻线深度;光栅的槽形结构镀层厚度和镀层边界处的结构形貌;磁(光)盘、磁头表面结构测量;硅片表面粗糙度及其上图形结构测量等等。由于仪器测量精度高,具有非接触和三维测量的特点,并采用计算机控制和快速分析、计算测量结果,本仪器适用于各级测试、计量研究单位工矿企业计量室,精密加工车间,也适用于高等院校和科学研究单位等。
光电轮廓仪 WGL 产品信息

一、产品特点

本仪器采用非接触、光学相移干涉测量方法,测量时不损伤工件表面,能快速测得各种工件表面微观形貌的立体图形,并分析计算出测量结果。适用于测量各种量块、光学零件表面的粗糙度;标尺、度盘的刻线深度;光栅的槽形结构镀层厚度和镀层边界处的结构形貌;磁(光)盘、磁头表面结构测量;硅片表面粗糙度及其上图形结构测量等等。

由于仪器测量精度高,具有非接触和三维测量的特点,并采用计算机控制和快速分析、计算测量结果,本仪器适用于各级测试、计量研究单位工矿企业计量室,精密加工车间,也适用于高等院校和科学研究单位等。

二、技术参数


表面微观不平深度测量范围

在连续表面上,相邻二象素之间没有大于1 / 4 波长的高度突变时:1000 一1nm

相邻二象素之间含有大于1 / 4 波长的高度突变时:130 一1nm

测量的重复性:δRa ≤0.5nm

物镜倍率:40X

数值孔径:Φ 65

工作距离:0.5mm

仪器视场 目视: Φ0.25mm

摄象: 0.13×0.13mm

仪器放大倍数 目视: 500×

摄象(计算机屏幕观察)一2500×

接收器测量列阵:1000X1000

象素尺寸:5.2×5.2µm

测量时间采样(扫描)时间:1S

仪器标准镜 反射率(高): ~50 %

反射率(低): ~4 %

照明光源:白炽灯6V 5W

绿色干涉滤光片波长:λ≒530nm

半宽度λ≒10nm

主显微镜升程:110 mm

工作台升程:5 mm

X 、丫方向移动范围: ~10 mm

工作台旋转运动范围:360°

工作台顷斜范围:±6°

计算机系统:P4 , 2 .8G 以上,内存1G以上17寸纯平显示器



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