型号：YX-JX40
仪器用途：
用于PCB电路板金相分析微切片的测量和分析
仪器特点：
1.光学系统 采用无限远色差校正光学系统
2.软件通俗易懂，可实现点、线、圆弧、半径、直径、角度等测量，可根据客户要求定制软件功
技术参数：
| 项目 | 主要技术参数 |
| 型号 | YX-JX40 |
| 光学放大倍率 | 50X～500X |
| 目镜 | 10X（带测微尺） |
| 物镜 | 5X、10X、20X、50X |
| 转换器 | 内定位五孔转换器 |
| 照明系统 | 上照明系统：反射灯室、暖色 下照明系统：透射灯室、暖色 |
| CCD相机 | 300万像素高清摄像机 |
| 测量精度 | 0.0012mm |
| 载物台
| 双层机械载物台 175×145mm，移动范围：76mm×42mm |
| 样品高度 | 样品高度 28mm |
| 测量软件： | YX-JX |
