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作物冠层分析仪 SunScan

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称上海泽泉科技股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/9/19 8:38:02
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上海泽泉科技股份有限公司(Zealquest Scientific Technology Co., Ltd.)成立于2000年,是一家专注于科研设备研发、系统集成、技术推广、咨询、销售和、科研服务的。公司注册资金3500万元人民币,具有进出口贸易权。公司总部位于上海浦西,在北京设有分公司,在广州、成都、武汉分别设有代表处。公司全体员工均具有高等教育背景,其中80%的技术研发、技术支持和销售人员具有硕士和博士学位,参加过很多国家和省部级重大科研项目,具有丰富的科研工作经验。上海泽泉科技股份有限公司是上海市、上海市普陀区科技小巨人企业、上海市科技型企业、中华全国合会/上海市合会/上海市商会会员单位,还是上海市专业技术服务平台——生理生态测量与分析平台的依托单位和上海市*成果转化项目承担单位。2012年公司通过了ISO9001质量管理体系认证,获得AA信用资质等级认定,获得普陀区科技小巨人企业认定,成为上海市研发公共服务平台加盟单位和“上海市合会”/“上海市商会”会员单位 。2015年获得“专精特新”中小企业认定。2016年成为“上海市生态学学会常务理事单位” ,和“上海种子行业协会”会员单位。上海泽泉科技股份有限公司非常注重自主知识产权的申报和保护,截止2017年初已获得发明9项、实用新型33项及软件著作8项,国内外科研期刊发表科研论文20多篇。公司还参与承担了国家自然科学基金重点项目(41030529)和948项目(200907)。公司秉承推进中国生态环境改善、农业兴国的理念,服务涉及植物表型组学和基因组学、植物生理生态、土壤、环境气象、水文水利、氢农业等领域的科研和技术支持,服务对象主要为各级科研单位、高校和政府机构。公司先后为“973”项目和“863”项目、国家科技重大专项、国家科技支撑计划、国家“211”工程和“985”工程、中科院知识创新工程、“948”项目、“948”项目等提供技术咨询、仪器设备、系统解决方案和系统集成服务,为项目的顺利完成提供了有力支持。多年来,公司积极参与相关领域的学术会议,并定期举办相关仪器设备的技术讲座和培训班,在科研和监测领域产生了积极的反响,获得了良好的口碑。截止2019年底,泽泉科技举办公开技术讲座230场,参会人员超过10000人次;同时在国内外应邀参加学术会议和展会220次,与相关领域的客户有非常密切的交流合作。2014年2月,上海泽泉科技股份有限公司在上海浦东孙桥现代农业园区投资成立了上海乾菲诺农业科技有限公司,建设了亚洲AgriPhenoTM“高通量植物基因型-表型-育种服务平台”,为植物科研和育种单位提供全面的样品收集和栽培,实验设计和项目合作,以及表型数据与生物信息学分析综合服务。平台运营至今,成功主持了上海张江国家自主创新示范区专项发展资金重点项目“泽泉科技高通量植物基因型-表型-育种服务平台”。作为主持单位或合作单位参与了上海市农委和科委的30多项政府科研服务项目以及商业服务项目,如科技兴农种业发展项目“农作物分子育种的技术创新研究”和“青菜高通量表型图谱标准的建立及主要性状分析”、科技兴农重点攻关项目“基于图像分析及三维建模技术的黄瓜长势快速评价方法研究”、 “兰科观赏花卉分子育种技术研究与产业化应用”等。结合Agripheno平台现有实验室、温室栽培和基础科研条件,公司积极响应上海市政府“崇明生态岛建设”的发展方向,2016年12月泽泉科技在崇明城桥镇投资成立了子公司—上海金盏农业发展有限公司,扩展建设田间智能化育种服务平台,以及智能化农业物联网“农业云平台”,以生态乡村、能源乡村的发展模式,展示并实施公司自主研发的*的农业楼宇基础设施、温室与田间的智能化“多因子”调控的栽培管理模式;拟建成拥有田间型高通量表型分析系统的“Agripheno智能化育种服务平台”,提高上海种业商业化育种的进程,并服务于全国和国外相关育种科研单位。 展望未来,上海泽泉科技股份有限公司希望在社会多方资源的支持和关怀下,不断提升自己,为社会提供更多、更优秀的产品和的服务!
作物冠层分析仪 SunScan 产品信息

主要功能




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根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程,使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数(LAI),同时描绘作物冠层PAR的分布图。通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息。




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应用领域


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了解农作物长生善,用于指导生产;了解不同特种、品种冠层差异性;用于测量植物叶面积指数LAI,测量冠层上下光照情况。


















系统组成





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SunScan探测器:一支1米长,内嵌64个光合有效辐射传感器的探测器

BF5反射系数传感器:能很容易地计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光的比例关系;选择通过数据线或者无线电与主机连接

RPDA2数据采集终端:一种采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑

三角架:用来安放BF5

便携箱:方便野外运输




















技术参数











SunScan探头

探测器光谱响应:400 ~ 700nm (PAR);

探测器测量时间:120ms;

探测器读数:2500μmol.m-2.s-1

探测器工作区域:1000mm×13mm,64个传感器,传感器间距15.6mm;

通讯端口:RS232,9针D型接口;

电源:4节AA碱性电池,典型情况下可以使用1年以上

反射系数传感器BF5         

光谱范围:400~700nm;

PAR测量范围:0~2500μmol.m-2.s-1(直射和散射);

传感器精度:直射±12%,散射±15%,PAR±10μmol.m-2.s-1

BF5电缆长度:标准为10米,可选25米和50米;

尺寸规格:120 x 122 x 95mm

重量:635g

电源:2节AA碱性电池,典型情况下可以使用1年以上



























选购指南











配置类型

特点和优势

SS1-COM完整版 

完整的系统包,含有SunScan探头、SunData软件、RPDA2数据采集终端、BF5传感器、三角架、操作光盘、连接线和运输箱

提供了完整、强大的冠层分析工具,可以即时计算LAI、手动或自动测量PAR,并测量太阳直射光斑。

SS1-COM-R4无线版

含有SunScan探头、SunData软件、RPDA2数据采集终端、BF5传感器、SunScan无线模块、三角架、操作光盘和运输箱

SunScan探头与BF5传感器之间无线数据传输,无线控制距离达100至200米,特别适合高冠层植物或使用范围较大的测量

SS1-STD3标准版

含有SunScan探头、SunData软件、RPDA2数据采集终端

价格便宜,拥有标准系统的所胡功能,但操作较麻烦,需要使用SunScan探头上下测量两次光照,同时要求稳定的天气条件。











产地:英国 Delta-T








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