膜厚计

它是一种紧凑且低成本的膜厚计，可以通过高精度光学干涉法轻松测量膜厚。
我们采用了一体式外壳，将必要的设备容纳在主体中，从而实现了稳定的数据采集。

• 支持从薄膜到厚膜的各种膜厚

• 使用反射光谱进行膜厚分析

• 紧凑且价格低廉，实现了非接触，无破坏的高精度测量

• 简单的条件设置和测量操作！任何人都可以轻松测量薄膜厚度

• 使用峰谷法，频率分析法，非线性小二乘法，优化法等，可以进行多种膜厚测量。

• 通过非线性小二乘法的膜厚分析算法，可以进行光学常数分析（n：折射率，k：消光计数）。

• 测量项目

• 反射率测量

• 膜厚分析（10层）

• 光学常数分析（n：折射率，k：消光计数）

测量目标

• 功能膜，塑料
  透明导电膜（ITO，银纳米线），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，胶粘剂，胶粘剂，保护膜，硬质大衣，防指纹等

• 半导体
  化合物半导体，硅，氧化膜，氮化膜，抗蚀剂，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，蓝宝石等。

• 表面处理
  DLC涂层，防锈剂，防雾剂等

• 光学材料
  滤镜，增透膜等

• FPD
  LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有机膜，密封剂）等

• 其他
  硬盘，磁带，建筑材料等

技术指标