半导体高低温冲击测试箱技术参数：
1.型号：3AP-CJ-50C；3AP-CJ-80C；3AP-CJ-100C；3AP-CJ-150C；3AP-CJ-250C；
2.内箱尺寸：35×35×40cm；50×40×40cm；60×40×60cm；60×50×50cm；70×60×60cm；
3.测试设备可选择的冲击温度有：A： -40℃～150℃； B：-55℃～150℃；C：-65℃～150℃
4.高温储存槽温度范围：RT~180℃或RT~200℃
5.低温储存槽温度范围：RT～-55℃；RT～-65℃；RT～-75℃（根据测试温度而定）
6.高温储存槽升温时间：RT-200℃约需30分钟
7.降温时间：RT～-75℃约需40分钟（根据尺寸大小跟实际测试温度有影响）
8.冷热冲击测试可设定时间:0.1～999.9小时,循环周期1～9999可设定.
9.冲击恢复时间：高温(80℃)冲击30分钟,低温(-40℃)冲击30分钟;冲击恢复时间:5分钟以内.
10.结构材质：整台测试设备为进口SUS优质304不锈钢板雾面处理（个别客户有选择钢板烤漆加色处理），内箱均为进口SUS#304不锈钢,配件：测试孔(φ50×1只)，试料架(2组)。
11.冷冻系统：复叠水冷式欧美*法国泰康全封闭或德国比泽尔半密闭式压缩机组.此两*压缩机始终以质量高，耗电低，使用寿命长，运行稳定而立不败之地。
12.控制器：大型LED彩色触控人机界面控制器or单显LED触控人机接口控制器.
13.半导体高低温冲击测试箱必配的安全保护装置：超压、加热干烧无熔丝过载保护器，压缩机过热、过流、、箱内超温警报系统.
本产品不同于普通的高低温试验设备，这是一台高性价比的测试设备，价格低约10万左右，贵会有几十万或者上百万一台的售价，所以从价格上也可以大概了解此设备的价值不低。本设备主要用于测试成品、半成品或原材料对极冷或极热的环境温度抵抗力，这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形，冷热冲击测试设备能使各种物品在短的时间（3~5分钟)内完成测试。因为要求极短的冲击时间，所以不管是制热还是制冷都需要大功率、高技术、高成本来制作，这样可以超仿真现实环境中因热胀冷缩所引起的物理伤害，采用微电脑PID系统，利用低温及高温蓄冷热储存槽，依动作需要打开对应储温槽的阀门，将储存槽内之冷热温度导入测试设备产品箱内从而达到快速冷热冲击测试的效果,平衡调温控制系统（BTC）+ 特殊设计之送风循环系统,以P.I.D.方式控制SSR,使系统之加热量等于热损耗量,故能*稳定的使用。
