led温度冲击测试箱 返回列表页

led温度冲击测试箱广泛用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。

led温度冲击测试箱技术参数：

内箱尺寸：360×350×400 ；500×400×400；600×500×500；500×750×600；750×800×800 

储热区储能温度范围：RT (常温)～+200℃

储冷区储能温度范围：RT (常温)～ -75℃

测试区可设定的实验温度范围：热冲实验（+60℃～+150℃ ） 

温度范围：（A:0℃～-45℃/ B:0℃～-55℃ / C:0℃～-65℃）

冲击方式：试品静止（气动气缸风门切换高/低温箱）

蓄热区预热时间：RT～150℃ 约 30分

蓄冷区预冷时间：RT～-75℃ 约 60分

冲击恢复时间：3~5min；移动时间小于10秒钟

温度控制精度：±0.5℃

温度均匀度：±2.0℃

冷冻系统：全密闭式或半密闭式压缩机，环保冷媒(R404A/R23)

材质：內箱SUS#304镜面不銹鋼板, 外箱SUS#304不銹鋼板或烤漆。

保温材质：高强度防火PU发泡绝缘材料