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大范围扫描开尔文探针系统

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产品型号FPKPT-SKP5050

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更新时间：2022-09-20 16:39:23浏览次数：380次

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产品简介

这款大范围扫描开尔文探针系统帮助用户可以访问从50mm到350mm的样品的二维和三维功函数图

详细介绍

这款大范围扫描开尔文探针系统帮助用户可以访问从50mm到350mm的样品的二维和三维功函数图。扫描开尔文探针的功函数分辨率为1-3meV，探针直径的空间分辨率为0.05mm，可对功函数、接触电位差和伏特电位进行可靠、可重复的测量。
大范围扫描开尔文探针系统可以选配高性能的光学/法拉第外壳屏蔽外壳，使其免受不必要的快速变化的环境条件、电磁干扰，并为我们的环境压力光电发射光谱和表面光电压附加模块提供了的平台。
大范围扫描开尔文探针系统特色
用开尔文探针测量功函数
1-3mev的功函数分辨率
扫描范围从50毫米到300毫米
扫描分辨率等于针尖直径
自动高度调节

大范围扫描开尔文探针系统应用
防腐，碳钢，薄膜，太阳能电池，氧化钼，氧化锌纳米线薄膜，量子点，空穴传输，纳米颗粒，石墨烯，有机发光二极管。

大范围扫描开尔文探针扫描结果

型号	SKP5050	ASKP100100	ASKP200250	ASKP350350
Tip material / diameter	Standard 2 mm gold tip (0.05 mm available on request)
Work function resolution	1 - 3 meV
Sample scan size	50 x 50 mm	100 x 100 mm	200 x 250 mm	350 x 350 mm
3D sample area	Square	Square	Square	Square and circular
Height control (auto)	25 mm	50 mm	50 mm	50 mm
Visualisation	3D map of surface potential
Optical system	Colour camera with zoom lens and monitor
Oscilloscope	Digital TFT oscilloscope for real time signal
Test sample	Gold and aluminium test sample
Faraday enclosure base	450 x 450 mm	300 x 300 mm	450 x 450 mm	450 x 600 mm
Control supplied	PC control with dedicated software for full control of all parameters
Detection system	Off-null with parasitic capacity rejection
Warranty	Twelve months