详细摘要： 提供了各种智能卡可靠性测试座，适用于可靠性，早期失效的高低温测试，可以支持8PI6PIN条带，双界面条带，3FF小卡，4FF小卡，M2M小卡。
产品型号：所在地：北京市更新时间：2023-04-26 在线留言通信电缆 网络设备 无线通信 云计算|大数据 显示设备 存储设备 网络辅助设备 信号传输处理 多媒体设备 广播系统 智慧城市管理系统
赤松城（北京）科技有限公司
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详细摘要： 提供了各种智能卡可靠性测试座，适用于可靠性，早期失效的高低温测试，可以支持8PI6PIN条带，双界面条带，3FF小卡，4FF小卡，M2M小卡。
产品型号：所在地：北京市更新时间：2023-04-26 在线留言
详细摘要： QTG20-C是一款用于接触式智能卡的高低温寿命测试和早期失效率评估测试的硬件设备，与CSC STG1001智能卡测试平台配合使用，为接触式智能卡提供了自动化测...
产品型号：QTG20-C所在地：北京市更新时间：2023-04-26 在线留言
详细摘要： 该产品为非接触卡和读写设备提供一种4轴可精准定位、自动化的测试平台，可用于非接卡/读卡器的读写距离和兼容性测试。（非接卡读写距离自动测试设备）
产品型号：CTG4所在地：北京市更新时间：2023-04-26 在线留言
详细摘要： 本产品是一种功能测试系统（FCT），针对于EEPRORM样品测试中的功能验证和协议测试，提供了一种较通用的人机界面和快捷方便的测试分析工具。（通用功能验证设备）
产品型号：FTG-64所在地：北京市更新时间：2023-04-26 在线留言
详细摘要： CTG1-SA设备是一种自动测试机器人，可以用于接触式智能卡产品的热拔插测试，和非接卡/读卡器的自动刷卡，并提供了对应测试的上位机软件。（自动刷卡测试设备）
产品型号：CTG1-SA所在地：北京市更新时间：2023-04-26 在线留言
详细摘要： QTG20-CL是一款用于非接触式智能卡模块/条带的高低温寿命测试和早期失效率评估测试的硬件设备，与CSC STG1001智能卡测试平台配合使用，为非接触式智能...
产品型号：QTG20-CL所在地：北京市更新时间：2023-04-26 在线留言
详细摘要： 该系列产品配合FTG系列设备，为芯片和PCBA测试提供了一种大规模量产的自动化测试解决方案。支持芯片自动化测试支持PCB板自动化测试自动化软件操作界面，实时记录...
产品型号：HTG系列所在地：北京市更新时间：2023-04-26 在线留言
详细摘要： MCU测试软件不同于常规的PC机或基于SOC的嵌入式软件，其一般情况下，与底层硬件耦合度高，资源有限，如何进行单元测试的问题困扰我很久。
产品型号：所在地：北京市更新时间：2023-04-23 在线留言
详细摘要： 物联网加密芯片 CIU98320B 芯片采用 55nm 制造工艺，基于 ARM 32 位安全 SC000 核， 320kB FLASH 存储器， 支持及国密码算...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2023-04-23 在线留言
详细摘要： 自动化测试是一款图形化测试软件，针对本公司自动化测试产品提供了包括调试、生产、记录等各种操作界面可应用于样品验证、可靠性多路同测、芯片量产、PCBA测试等自动化...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2023-04-23 在线留言
详细摘要： 老化测试是一种功能测试系统（ FTG），针对于 EEPROM/FLASH 产品测试中的功能验证和协议测试，提供了一种较通用的人机界面和快捷方便的测试分析工具。
产品型号：所在地：北京市更新时间：2023-04-23 在线留言
详细摘要： 可靠性测试系统-存储器芯片FTG16可编程测试系统是一种功能测试系统（ FTG），针对于 EEPROM/FLASH 产品测试中的功能验证和协议测试，提供了一种较...
产品型号：FTG16所在地：北京市更新时间：2020-05-30 在线留言
详细摘要： 本产品是一款图形化测试软件，针对本公司自动化测试产品提供了包括调试、生产、记录等各种操作界面。（自动化测试软件）
产品型号：STG系列所在地：北京市更新时间：2017-12-27 在线留言
详细摘要： QTG20-USB是一款功能测试系统，针对USB接口产品的可靠性测试和样品验证，实现批量同步测试，提供了一种友好的人机界面和快捷方便的测试分析工具。（USB产品...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2017-12-27 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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