产品介绍
“电容器温度特性评估系统"是将环境试验箱与测量和评估系统相结合，高效采集数据的自动化多通道系统。
产品特点
电容器温度特性评估系统可用于评估特定温度环境下电容器和各种材料的静电容量 (C)、损耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。
01.最多64个通道的自动测量该系统可以测量不同温度环境下的静电容量 (C)、损 耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。 您可以选择8~64个通道。
02. 图形功能允许实时查看测量结果 收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性 值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查。
03.多种可选夹具适用于不同的试验样本（可选） 除了 SMD 组件的专用夹具外，我们还提供了根据离散设备形状定制的夹具。
04.可从不同测试模式选择 温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验。
<温度特性评估测试> 在此测试模式下，自动记录特性数据，并与温度变化同步，最多40步。
<持续运行测试> 该测试模式测量以下参数的变化特定中随时间推移 的特征自动记录数据。
<频率特性评价试验> 该试验模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录不同频率下的特性数据。测试可与温度特性评价测试或恒定运行测试相结合。
应用程序
电容器
1.静电容量(C) 2.损失因子(D) 3.阻抗的温度特性 (Z) 4.频率特征
电子材料
1.印刷电路板 2.通量 3.绝缘材料（树脂、薄膜等） 4.介电材料（钛、陶瓷、钽、铝电解材料等）
产品参数
测量项目：静电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) *和电感 (Ls，Lp) *
检测项目：温度特性评价试验（相对于温度的变化） 恒定运行检测（相对于检测时间的变化） 频率特性评价试验 （相对于频率的变化）
通道配置：8通道（标准）；值64通道可扩展8通道增量
测量方法：交流四端对测量
测量范围：测量频率：20 Hz ~ 1 MHz 静电容量 (C)：50 pF ~ 5 mF 损失因子 (D)：0.0001 ~ 9.9999
静电容量 (C)：50 pF ~ 5 mF
阻抗 (Z)：10 mΩ ~ 100 mΩ
6.测量仪器：LCR 计 (Keysight Technologies)
7.测量范围：选择AUTO，10Ω，100Ω，300Ω，1kΩ，3kΩ，10kΩ，30 kΩ或100 kΩ
8.直流偏压：±0 ~ ±40V
9.测量间隔：1 min ~ 1500 min（恒定运行期间）
10.温度步骤：从规定40步开始/结束温度的模式中选择 以及输入所需温度的步长间隔和模式
11.频率步长：值50步（设置为所需值）
12.补偿：短时补偿，开放补偿
13.环境试验系统控制：使温度数据采集与测量和的温度控制同步 具有 RS-485 功能的环境测试系统。
14.测量电缆：由聚四氟乙烯制成的同轴电缆 （特性阻抗 (Z)，50Ω，95 pF/m）
15.外部尺寸：530（宽）×1832（高）×800（深）mm（不包括突出部分）
16.设备电源：100 VAC ±10% 1φ 50/60 Hz 15 A
