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大功率半导体器件静态参数测试系统

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产品型号EN-30200

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更新时间：2024-05-21 19:05:34浏览次数：78次

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西安谊邦电子科技有限公司

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产品简介

大功率半导体器件静态参数测试系统适合工厂、研究所用做半导体器件及其模块的筛选、检验、分析以及器件生产厂用做生产测试，是一款针对大功率器件各种静态参数而研制的智能测试系统。

详细介绍

大功率半导体器件静态参数测试系统由计算机控制系统

计算机控制系统是该测试设备的中心控制单元，设备有一部分的工作程序、工作时序、开关的动作状态，数据采集等均由计算机完成。计算机

采用研华工业控制机，具有抗电磁*力强，排风量大等特点。

计算机中，装有美国国家仪器公司生产的数据采集卡NI PCI6221卡2块，NI PCI6221是一块多功能的数据采集卡，具有三组数据端口，16/8个

模拟量输入端口，两个模拟量输出口、两个定时器计数器。

PLC控制系统

控制系统除工控机外，还采用了欧姆龙系列的PLC，PLC主要对设备的工作时序、开关动作等进行控制，并且与计算机进行通讯，完成了整个系统的自动控制功能；PLC不仅控制开关的动作，而且对系统中主要开关的工作状态进行实时监控，并与硬件进行互锁，实现了可靠的安全控制功能。

大功率半导体器件静态参数测试系统外形尺寸和电源要求

尺寸： 800×800×1800（mm）

质量： 210kg

环境温度：15~40℃

工作电压：AC220V±10%无严重谐波

电网频率：50Hz±1Hz

通信接口：USB RS232

系统功耗：380W

关键词：控制系统采集卡 PLC 工控机控制开关

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