当前位置：北京合能阳光新能源技术有限公司>>>>无接触少子寿命测试仪

无接触少子寿命测试仪

返回列表页

参考价

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号HS-MWR-SIM

品牌

厂商性质生产商

所在地北京市

在线询价收藏产品

更新时间：2024-05-09 12:53:22浏览次数：79次

联系我时，请告知来自智慧城市网

产品分类 品牌分类

暂无信息

北京合能阳光新能源技术有限公司

经营模式：生产厂家

商铺产品：42条

所在地区：北京北京市

联系人：采购部（经理）

询价 给他留言

产品简介

合能阳光无接触少子寿命测试仪(HS-MWR-SIM)，是一款功能强大的，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的

详细介绍

合能阳光无接触少子寿命测试仪（HS-MWR-SIM），是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.5μs到300μs,P型电阻率量程为0.8-100Ω.cm,N型电阻率量程为0.5-100Ω.cm，是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业*的测量仪器。

无接触少子寿命测试仪-产品特点

■ 无接触和无损伤测量
■ 可移动扫描头，便于测量
■ 测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量
■ 主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等
■ 性价比高，*程度地降低了企业的测试成本
■ 质保期：1年