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北京合能阳光新能源技术有限公司
合能阳光无接触少子寿命测试仪(HS-MWR-SIM),是一款功能强大的,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的
合能阳光无接触少子寿命测试仪(HS-MWR-SIM),是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的,并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.5μs到300μs,P型电阻率量程为0.8-100Ω.cm,N型电阻率量程为0.5-100Ω.cm,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业*的测量仪器。
无接触少子寿命测试仪-产品特点
■ 无接触和无损伤测量
■ 可移动扫描头,便于测量
■ 测试范围广:包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量
■ 主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查,生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等
■ 性价比高,*程度地降低了企业的测试成本
■ 质保期:1年
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