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X射线镀层测厚仪

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产品简介

X射线镀层测厚仪贵金属是制造首饰的基础物质，同时也普遍应用在高技术产业中，如电子和医药领域。贵金属的产品周期包括从矿石开采原材料、通过专门的复杂加工技术成型直到回收处理。

详细介绍

X射线镀层测厚仪

STARK系列用于首饰及合金中的金属元素分析、金属镀层厚度测量专为珠宝首饰行业定制的检测仪器。

贵金属是制造首饰的基础物质，同时也普遍应用在高技术产业中，如电子和医药领域。贵金属的产品周期包括从矿石开采原材料、通过专门的复杂加工技术成型直到回收处理。

在制造时尚首饰时，人们往往采用便于加工的材料，如黄铜、锌合金或钢。根据视觉的要求，然后再用装饰性的金属涂层进行覆盖。通常使用X射线荧光法可以快速、无损和准确的测量。

一、X射线镀层测厚仪功能：

1、采用X射线荧光光谱法：无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

2、镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

3、可测量厚度范围：Ti钛—U铀

4、镀层层数：多至5层。

5、测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。

6、测量时间：通常60秒-180秒。

7、样品*大尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

8、测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

9、可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。

10、同时定量测量8个元素。

11、定性鉴定材料达20个元素。

关键词：测厚仪检测仪器

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