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MARSURF XC 2 MIT CD 120 轮廓测量站

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产品简介

精密轮廓测量入门之选测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求

详细介绍

精密轮廓测量入门之选
测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法，快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。GOM三维扫描仪，同时，它还能提供安全而可靠的结果。

轮廓测量站

·利用相关元件，更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。
·密码保护用户访问权限，避免不当使用
·以多年经验为基础的出色校准流程，包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等
·稳定、坚固的测头
·平滑运行，稳定而准确的驱动装置
·根据各种调整速度自动降低和抬高测杆
·高定位精度
·测杆固定技术，防碰撞保护

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