SAKI光学检测设备2D AOI ，采用其独自开发的线性扫描技术 ，利用其的线性摄像系统与同轴垂直落射照明相结合，通过简易的机构，实现了高速、高精度、高可靠性的检查，是在线光学检查设备中的解决方案。
SAKI 2D AOI得益于线性扫描的设计理念，实现了紧凑的机身设计，无论是单轨还是双轨都以同样的装置寛度，实现了单位面积内生产率。的线性扫描设计方式，使得装置在运行中没有任何振动，保证了设备的高精度性，也铸就了设备极低的故障率。
SAKI 线扫描技术，是快速地进行全基板的扫描，是赛凯智能测试设备的基础技术。赛凯智能采用线性照相机的摄像方式，实现了快速的检查。
其他品牌 AOI 通过一般的测试设备所采用的分段拍摄方式，根据零部件数，基板尺寸改变检查工作，如果进行更细微的检查，则检查时间会大幅度增大。
SAKI 同轴照明无阴影检测
同轴落射照明是赛凯智能的独自技术，是在基板全部位置上，对于检查部件从正上方照射同轴光的技术。同轴落射照明，不受相邻零部件大小和高低的影响，使得 SAKI 机器能够捕捉到焊端任意角度无阴影的影像。
SAKI 高速线性扫描 2D AOI
1）SAKI 通过高精度大口径远心透镜光学系统，结合丰富的算法和的同轴落射照明，不会漏掉任何检查对象。
2）SAKI 高解析度线性扫描 AOI，可用于任何高速生产线，实现炉前、炉后、综合检查的全自动光学检测机。
3）SAKI 以其丰富的软件支持系统，满足顾客的远程调试、一机多联、条码追索、MES接入，等各种需求，保护顾客的长远投资。
技术规格
| 机器型号 | BF-Planet-X Ⅱ | BF-Frontier Ⅱ | BF-Tristar Ⅱ | BF-10D |
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| 装置特性 | 单面扫描测试
M 基板，最小元件 01005 | 单面扫描测试
LL 基板，最小元件 0201 | 双面扫描同时测试
M 基板，最小元件 01005 | 双轨、单面扫描测试
M～L 基板，最小元件 01005 |
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| 分辨率 | 10 um | 18 um / 9 um | 10 um | 10 um |
| 基板尺寸 | 60 x 50 ~ 330 x 250 mm | 60 x 50 ~ 500 x 460 mm | 60 x 50 ~ 330 x 250 mm | 单轨道 : 60 x 50 ～ 330 x 460 mm
双轨道 : 60 x 50 ～ 330 x 250 mm |
| 基板翘曲 | ±2 mm | ±2 mm | ±1 mm | ±2 mm |
| 零部件高度 | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 30 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm |
| 图像扫描时间 (尺寸基板) | 約5秒 | 約5秒 | 約5秒 | 約8.5秒 |
| 主要的检查项目 | 零部件的有无，位置偏差，横侧站立， 纵站立，表里反转，极性反转，桥接，
异物粘着，没有焊锡，焊锡少，引脚漂浮， 芯片漂浮，圆角异常 |
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| 基板厚度 | 0.6 ~ 3.2 mm |
| 照相机 | CCD 线性感应器照相机 |
| 照明 | LED 同轴落射照明 |
可以连接系
统的选项 | BF-Editor | √ |
| BF-RP1 | √ |
| BF-Monitor | √ |
| BF-WebTracerII | √ |
| 2D 条形码识别功能 | √ |
| OK/NG信号输出 | √ |
| 涂上防湿剂检查 | √ |
| 设备外形尺寸 W x D x H | 600 x 915 x 1270 mm | 850 x 1340 x 1230 mm | 850 x 1295 x 1130 mm | 850 x 1360 x 1380 mm
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