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多功能超声波测厚仪CMXDL+

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更新时间：2024-02-16 14:41:47浏览次数：59次

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北京天创时代检测设备有限公司

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产品简介

多功能超声波测厚仪CMXDL+美国DAKOTA公司CMXDL+多功能超声波测厚仪，带A/B扫描功能，可测量材料的厚度，穿透涂层测量材料厚度，也可以测量涂层的厚度

详细介绍

多功能超声波测厚仪CMXDL+

美国DAKOTA公司CMXDL+多功能超声波测厚仪，带A/B扫描功能，可测量材料的厚度，穿透涂层测量材料厚度，也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置，以获得更好的性价比。
标准版为灰度显示屏，可选彩屏版。

	仪器特点

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100MHz FPGA时序电路设计
可选彩色和灰度显示屏
A/B扫描
手动调节增益和自动增益控制 (AGC)，范围：110dB
自动时间相关增益(TDG)
多种测量模式
脉冲-回波(P-E)模式：测量材料厚度
脉冲-回波涂层(PECT)模式：同时测量材料和涂层厚度
脉冲-回波温度补偿(PETP)模式：测量材料厚度
回波-回波(E-E)模式：穿过涂层测量材料厚度
回波-回波验证(E-EV)模式：穿过涂层测量材料厚度
测量涂层(CT)模式：只测量涂层厚度
可接双晶探头和单晶探头(包括延迟块探头、接触式探头、笔形探头)
USB Type-C数据接口
内置4GB SD存储卡

	技术参数

	测量
	脉冲-回波(P-E)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢) 脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢)，0.0254~2.54mm(涂层) 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢) 回波-回波(E-E)模式测量范围：2.54～152.4mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化) 回波-回波验证(E-EV)模式测量范围：2.54～102mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化) 测量涂层(CT)模式测量范围：0.0127~2.54mm(涂层) 分辨率：0.01mm 声速范围：309.88～18542m/s 单位：公制或英制校准：一点和两点校准方式
	显示
	显示屏：1/8英寸VGA灰色显示，240x160象素。可视区62x45.7mm，EL背光；可选1/4英寸彩色显示屏，320x240象素 A-扫描方式：检波+/-(缺陷视场)，RF(全波视场)。刷新频率25Hz/60Hz(彩色显示屏)。纵向和横向视图(彩色显示屏) B-扫描方式：基于时间的横截面视图。显示速度为每秒10到200个读数大数字方式：标准厚度显示，数字高度17.78mm/14.35mm(彩色显示屏) 厚度条形扫描：速度10Hz，在B-扫描和大数字显示中可见稳定度指示：表示测量值的稳定性功能状态指示：显示当前激活的功能
	超声波参数
	测量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT 脉冲：可调方波脉冲发生器接收：根据选择模式在110dB范围内采用手动或AGC增益控制，阻抗50~1500Ω可调计时：单次100MHz8位超低功耗数字化仪的精确TCXO计时脉冲重复频率：250Hz
	探头
	频率范围：1~20MHz 双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔式) LEMO接口，1.2米探头线可定制用于特殊应用的探头
	存储
	容量：内置4GB SD卡数据结构：网格(字母数字)和顺序(自动识别) 截屏功能：位图图形捕获，用于快速记录数据输出：通过USB Type-C连接的计算机
	功能
	设置：64个用户定义设置，用户也可编辑出厂设置探头类型可选：内置双路误差校正，提高线性度报警模式：上下限视听报警快速扫描模式：每秒250个读数，当探头离开时显示最小值
	其他
	键盘：12个触摸键电源：标配为三节5号碱性电池，可选镍镉电池或锂电池。电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电外壳：挤压铝机壳，底盖用镀镍铝板加密封垫封装工作温度：-10～60℃ 尺寸重量：63.5x165x31.5mm，含电池385g 包装：ABS工程塑料箱出厂证书：工厂校准可追溯到NIST和MILSTD-45662A标准

	双晶探头

型号	频率	探头晶片直径	探头防磨面直径	测量范围	说明
T-102-2900	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	标准CT探头(可测涂层厚度)
T-101-2900	5.0MHz	4.76mm	6.35mm	1.0～50mm	小管径CT探头
T-102-3300	7.5MHz	6.35mm	9.53mm	0.63～152mm	超薄探头
T-104-2900	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚CT探头
T-042-2000	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	标准高温探头，340℃
T-044-2000	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚高温探头，340℃
T-212-2001	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	超高温探头，480℃
T-214-2001	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚超高温探头，480℃

注：测试高温表面时需用

	单晶探头

探头型号	频率	描述	说明
T-402-5507	15MHz	晶片Ø6.35mm	标准延迟块探头
T-402-6507	20MHz	晶片Ø6.35mm	延迟块探头
T-4903-2875	5MHz	晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm	接触式探头
T-4903-4875	10MHz	晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm	接触式探头
T-4023-2855	5MHz	晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm	接触式探头
T-4023-4855	10MHz	晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm	接触式探头
T-481-4507	10MHz	延迟块前端Ø1.59mm	笔式探头