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深圳市净康科技有限公司
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JIMA RT RC-05B 分辨率测试卡是一款采用新半导体光刻技术制作的微型分辨率测试卡。它用于校准和监控系统分辨率，确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。
一、JIMA RT RC-05B 分辨率测试卡详细介绍：
JIMA RT RC-05B是一款采用新半导体光刻技术制作的微型分辨率测试卡。它用于校准和监控系统分辨率，确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 μ m至50 μ m）的分辨率。这对应于6微米和100微米（6 μ m和100 μ m）之间的焦斑尺寸。
二、JIMA RT RC-05B 分辨率测试卡应用：
· 修复 X 射线系统操纵器上的分辨率测试。
· 选择探测器、样品和试管的距离，以实现高几何放大倍率。
· 选择所需的 X 射线参数。
· 将分辨率测试放置在管的前面，使线条图案可见。
· 使用操纵器移动测试图，以便看到下一个较小的线对束。
· 只要线条清晰可见，就继续。焦点大小近似计算为小分辨率乘以 2。
注意：尽量减少辐1射的持续时间。在手术过程中关闭 X 射线。目标前面的热量可能会损坏测试图。
三、技术参数：
狭缝尺寸：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米
测试框架尺寸：40 x 30 x 3 mm (WxHxD)
芯片尺寸：8 x 8 x 0.2 mm (WxHxD)
吸收材料厚度： gt;1.0 μm 金 Au Slit的数量为3行和2个空格
宽度3至10 μm：T形布局
宽度15至50 μm：I形布局L/S宽度
L/S宽度：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm
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