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上海德竹芯源科技有限公司
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UltraFLEX是一款性能优异的半导体ATE测试系统，具有高度的灵活性和可扩展性，可用于测试各种类型的半导体芯片，包括数字、模拟、混合信号、射频（RF）和微控制器（MCU）等芯片。该系统集成了*的硬件和软件技术，具有优异的性能和可靠性。Ultraflex测试系统可以应用于多种行业和领域，例如电子、通信、汽车、医疗、工业控制等。具体测试应用包括：数字芯片测试、模拟芯片测试、混合信号芯片测试、射频芯片测试、功率管理芯片测试、传感器芯片测试等。
主要优点
● 高灵活性：UltraFLEX系统可根据客户需求进行定制，可以支持多种测试方案，包括多芯片、多站点、多工序测试，以及自动化测试、手动测试等。
● 高可扩展性：UltraFLEX系统可根据客户需求进行灵活扩展，支持多种测试模块的加装和替换，以及测试系统的升级和维护。
● 高性能：UltraFLEX系统采用了*的硬件和软件技术，具有高速、高精度、高可靠性等优点，可满足各种复杂芯片的测试需求。
● 高效性：UltraFLEX系统具有快速启动、自动化测试、高效数据分析等特点，可大幅提高测试效率和产品质量，降低测试成本和风险。
● 易用性：UltraFLEX系统采用了直观的用户界面和智能化的操作流程，可大幅降低测试人员的培训成本和工作难度，提高测试人员的工作效率和满意度。
测试亮点和功能
● 数字芯片测试：UltraFLEX测试系统具有高速、高精度、高可靠性的数字信号处理能力，可以支持高达1 Gbps的数字信号测试，同时还可以进行时钟测试、边沿测试、电气特性测试、功耗测试等，可以覆盖多种数字芯片的测试需求。另外，UltraFLEX还可以支持多个数字接口标准，例如 SPI、I2C、JTAG 等，可以实现对多种数字接口的测试。
● 模拟芯片测试：UltraFLEX测试系统采用模拟测量技术和强大的模拟信号处理能力，可以实现模拟信号的高速采集和处理，支持多种模拟信号的测试，例如直流电压测试、交流电压测试、频率测试、相位测试等，可以覆盖多种模拟芯片的测试需求。另外，UltraFLEX还可以支持多种模拟接口标准，例如 USB、Ethernet、HDMI 等，可以实现对多种模拟接口的测试。
● 混合信号芯片测试：UltraFLEX测试系统结合数字信号测试和模拟信号测试的优势，可以实现对混合信号芯片的全面测试。该系统可以同时测试数字信号和模拟信号，可以测试多种混合信号芯片，例如传感器、功率管理芯片、音频芯片、控制器芯片等。
应用领域
● 移动应用处理器
● 数字基带处理器
● 高数据速率 RF 收发器
● RF 连接性器件
● 毫米波
● 5G
● 移动电源管理 IC (PMIC)
● 微处理器
● 网络处理器
● 高速SERDES（串行器/解串器）和背板收发器
● 存储控制器
● 微控制器
● 音频和视频处理器
系统选项
● UltraPin1600 高密度高速数字接口为每个板卡提供了 128 或 256 个通道，测试覆盖率高达 2.2Gbps。UltraPin1600 实现了该测试机的多核、基于硬件的协议感知能力，允许将单个引脚组保存到设备数据速率和时序中，并消除了编程标准数据总线所需的数字测试向量。
专用硬件带来了同周期源同步能力和“步进选通"时序测量功能，在需要时可为高速 DDR 和其他关键应用提供量产测试能力。UltraPin1600 测试程序还兼容早期的 UltraPin800 和 HSD1000 数字选配件。
● UltraWave12G/UltraWave24 口数 RF 选配件提供了最多达 96 个通用测试向量 RF 端口，具有载波频率和调制带宽，可覆盖*的蜂窝网络和连接性标准。UltraWave 选配件提供的精度和相位噪声性能不亚于、甚至优于现有高性能的工作台设备，并集成了板载波形发射和接收，以消除额外的测试设备板卡需求。UltraFLEX ESA 软件工具包和 UltraDSP1 选配件提供了行业标准的调制和解调工具，可运行在最多达 32 个专用处理内核上，通过专用高速数据总线自动下载数据，以实现轻松关联行业标准，并尽可能提高产能。
UltraWaveMX44 和 UltraWaveMX20 板卡能将新兴毫米波应用的半导体器件更快推向市场，同时提高产品良率。MX44 及 MX20 对 UltraWave24 能力进行了扩展，可全面覆盖 IoT、WiFi、LTE、超宽带和 5G 标准等测试应用，同时保持的 DIB 和对接兼容性。
● UltraPAC80 高密度 AC 发射和接收板卡提供了最多达 8 个发射和接收通道，其中每个通道都具有专用的音频和视频模拟路径。该测试机的采样时钟架构在不影响性能的情况下，为用户提供了完整的采样频率灵活性，保证在每次运行测试程序时与其他所有板卡进行相位校准，消除了特定作业的校准需求，从而实现较高性能 RF 收发器所需的相位平衡。
● UltraVI80 高引脚数、高精度电压和电流选配件提供了 80 个具有“3合1"能力的独立引脚。每个 UVI80 引脚都是真正的电压或电流 (VI) 发射和测量板卡，每个引脚都配有高精度差动电压表和时间测量单元，可用于对移动电源管理器件进行完整的大规模并行测试。此外，UVI80 通道可以在特殊的低电压下降发射模式下工作，为敏感的模拟和 RF 应用提供出色的电源噪声性能。最后，每个 UVI80 通道都具有嵌入式的高性能 AC 波形发射和测量能力，可对嵌入在复杂 SOC 或微控制器器件的 D/A 和 A/D 转换器进行高并行测试。
● UltraVS256 高密度设备电源 (DPS) 为每个板卡提供了 256 个独立通道，以提供低功耗移动通信设备所需的大规模并行能力。UVS256 还为器件参数测试提供了基于钳位的电流发射能力。UVS256 为测试工程师提供了程控输出带宽和全模式设置和测量控制能力，从而降低了 DIB 复杂度并加快测试时间。
● HEXVS 和 VSM 高精度和稳定性处理器内核提供了负载下出色的电压精度和稳定性，大幅改善复杂处理器的性能和良率。这使得设备在较低电压下也可配置到更大性能，从而提高 UltraFLEX 上测试器件的价值和良率。
● DC30 和 DC75 电压/电流源将 DC 能力扩展到 30 伏和 75 伏，以满足移动电源管理和其他器件的高电压测试要求。与 UltraVI80 一样，这两种选配件都包含精密的差动电压表和时间测量能力。
● UltraSerial60G 是一个用于测试 60Gbps 高速器件的 ATE 解决方案。该板卡专为在 UltraFLEX 上进行器件特性分析和量产测试而设计，具有 32 个 TX 和 32 个 RX 差动端口，实现了较高的并行性。UltraSerial60G 还拥有 32 个独立的内置数字化仪，无需额外的 DIB 电路即可确保台式测试质量。
● UltraPin4000 高速、高精度数字选配件提供了较高的数据速率能力，具有专有的时序校准选配件，在测试处理器蓝图上具有挑战性的 DDR 接口时实现了良好的定时精度。
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