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广州智慧源电子有限公司
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晶振频率测试仪GDS-80L是一种专业的晶振测试设备，主要测试无源晶振相应的电参数。采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量精度高，速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0、频率牵引力Ts等参数测量功能
晶振频率测试仪GDS-80L是一种专业的晶振测试设备，主要测试无源晶振相应的电参数。采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量精度高，速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0、频率牵引力Ts等参数测量功能，晶振频率测试仪GDS-80L负载电容在1-100P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能网络分析技术运算克服了市场上晶振测试设备使用实体电容法测试精度差，无法测试电参数的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。
晶振测试主要方法主要经历了早期的晶体阻抗计，到目前主流的网络分析仪方案。早期的晶体阻抗计检定依据为JJG(電子) 05053-1995 晶体阻抗计检定规程，代表产品有安捷伦HP4915A/4916A，S&A 150等；经历了约20年的发展，2023年的测试方法为网络分析仪测试方案，依据标准为GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法》，典型产品有智慧源的GDS-80系列等。
晶振测试仪GDS-80系列采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量精度高，速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0、频率牵引力Ts等参数测量功能。
自动测试功能；
报警功能
上位机软件通信功能
250*280*150mm
1. 中心频率范围： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意设定
2. 扫描范围：±1000ppm（默认±400ppm）
3. 负载电容：1-100P 任意设定
4. 串联谐振频率Fs测量范围：±1000ppm（默认±400ppm） 测量精度：±5ppm
5. 串联谐振电阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）
10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）
6. 负载电容CL测量范围：1-200PF
7. 时基误差：±1ppm
8. 负载谐振频率FL测量精度：±5ppm+时基误差
1.设备需要定期进行PI网络校准
2.设备需要定期进行频率校准
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