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苏州腾斯凯电子科技有限公司
测试频率范围:40HZ~200KHZ 特点:测量模式LCR
测试频率范围:40HZ~200KHZ
特点:
测量模式 | LCR,连续测试 |
测量参数 | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
测量量程 | 100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) |
可显示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: |
基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
测量频率 | 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz) |
测量信号电平 | 正常模式 |
输出阻抗 | 正常模式:100Ω |
显示 | 单色LCD |
测量时间 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
功能 | 比较器,分类测量(BIN功能),节点负载/补偿,记忆功能 |
接口 | EXT I/O(处理器),USB通信(高速) |
电源 | 100~240V AC,50/60Hz,50VA |
尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 | 电源线×1,操作手册×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |
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