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韩国微先锋XRF-2020镀层测厚仪
X射线膜厚仪韩国XRF-2020电镀测厚仪
检测电子电镀层厚度,仪器全自动台面
自动雷射对焦,多点自动测量。
X射线膜厚仪韩国XRF-2020电镀测厚仪
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料
原产地:韩国
品牌:Micropioneer微先锋
型号:XRF-2020
测量精度
首层:±5%以内
第二层:±10%以内
第三层:±15%以内
测试范围
镀金:0.03-6um
镀钯:0.03-6um
镀镍:0.5-30um
镀锡:0.3-50um
镀银:0.1-50um
镀铬:0.5-30um
镀锌:0.5-30um
镀锌镍合金:0.5-30um
型号规格
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg
XRF-2020微先锋系列
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
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测量电镀层厚度
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