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上海中研仪器制造有限公司
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VK-系列产品介绍用于显微图像观察分析、精密测量、3D成像、3D轮廓测量、纳米级粗糙度测量，精密膜厚测量等。
产品特点
采用激光共聚焦原理，用于显微图像观察分析、精密测量、3D成像、3D轮廓测量、纳米级粗糙度测量，精密膜厚测量等。
显微观察：
3D显微组织：
激光3D：
电子器件精密测量：
纳米级别粗糙度测量：
3D轮廓测量：
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