创新点
PLD-MPCS系列显微镜颗粒分析系统是应用在汽车零部件、航空航天、液压润滑行业颗粒度检测的专业性分析测试仪器，具有专业性强，分析性能优异、标准模块多、测量项目全等功能，测定结果可追溯等优势。
普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器。
产品性能
直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点；
正偏光显微测试可以准确判别颗粒的金属非金属特性；
避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；
现实NAS、ISO等国际标准方法的认可；
属于科研级别的新型的粒度测试手段。
技术参数
自动分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%测试范围: 1-500μm系统放大倍数：40～l000X倍
zui大分辨率：0.1μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）
重复性误差：< 5%（不包含样品制备因素造成的误差）
数字摄像头(CCD)：300万像素
标尺刻度：0.1μm
分析项目：粒度分布、长径分布、圆形度分布等
软件运行环境：Windows 2000、Windows XP
接口方式：RS232或USB方式
基本配置
正置式偏振光光学显微镜
数字500万级别以上的CCD摄像头
全自动0.1微米级别的载物台
图像处理与分析软件
电脑和打印机
等部分组成；
将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物；
专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；
R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统；
颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；
显示器及打印机输出分析结果。
常见问题
1.系列显微镜颗粒分析系统的技术参数有哪些？
自动分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%测试范围: 1-500μm系统放大倍数：40～l000X倍
zui大分辨率：0.1μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）
重复性误差：< 5%（不包含样品制备因素造成的误差）
数字摄像头(CCD)：300万像素
标尺刻度：0.1μm
分析项目：粒度分布、长径分布、圆形度分布等
软件运行环境：Windows 2000、Windows XP
接口方式：RS232或USB方式
