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北京时代新天测控技术有限公司
阅读:25发布时间:2023-09-01
北京时代新天测控技术有限公司
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本标准与GB/T 176-1996、GB/T 19140-2003相比主要变化如下:
——增加了X射线荧光分析玻璃熔片的制备中试样的称量。
——增加了校准方程的建立和确认。
——允许差改为重复性限和再现性限。
注:详细查看,请下载
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