led高低温冲击试验箱 返回列表页

led高低温冲击试验箱广泛用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。

两箱式特点

二箱设备区分为高温区、低温区二部分，测试产品置于提篮中, 冲击时提篮将测试产品移进高温区或低温区进行衡击,测试产品为动态式。 

二箱移动式冷热冲击，安全的气压驱动测试物上下来回冲击。

采日制彩色触控LCD中/英文微电脑温度控制器。

无纸式记录功能，具实时显示温度冲击试验变化之曲线图及记录双重功能。

冷热冲击机构移动时间在10秒内，可符合MIL，LEC，JIS等规范。

冷热冲击温度恢复时间在5分钟内，可符合相关试验规范。

采用HFC环保冷媒，二元超低温冷冻系统设计，降温快、效率高。

led高低温冲击试验箱技术参数：

内容积：150L

内箱尺寸：500*600*500mm   (W* H *D)

外型尺寸(约)：1550*2050*2350mm （W* H *D）

重 量：约850㎏

测试室温度范围：-65℃～+150 ℃ (水冷式)

低温冲击范围：-10℃～-65 ℃  （任意可调）

高温冲击范围：60℃～150 ℃  （任意可调）

预热温度范围：RT～+195℃

升温时间：+50℃→+195℃ ≤40min注：升温时间为高温室单独运转时的性能

预冷温度范围：RT～-75℃

降温时间：+20℃ → -75℃≤约90min注：降温时间为低温室单独运转时的性能